低功耗随机数后处理部件设计
致谢 | 第1-5页 |
摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-9页 |
目录 | 第9-12页 |
图索引 | 第12-13页 |
表索引 | 第13-14页 |
1 绪论 | 第14-19页 |
·低功耗设计技术简介 | 第14-15页 |
·低功耗设计技术发展综述 | 第14-15页 |
·低功耗设计技术国内外现状与趋势 | 第15页 |
·随机数后处理技术简介 | 第15-17页 |
·现有的后处理设计方案 | 第16-17页 |
·论文研究意义及创新点 | 第17-18页 |
·研究意义 | 第17页 |
·创新点 | 第17-18页 |
·论文的主要研究内容与论文结构 | 第18-19页 |
2 低功耗以及后处理单元的基本理论及原理 | 第19-25页 |
·当前低功耗技术的基本原理 | 第19-21页 |
·功耗的来源 | 第19-20页 |
·层次化的低功耗设计 | 第20-21页 |
·随机数后处理单元基本理论 | 第21页 |
·高阶LFSR的理论研究 | 第21-24页 |
·LFSR的理论基础分析 | 第22-23页 |
·LFSR后处理算法的安全性分析 | 第23-24页 |
·本章小结 | 第24-25页 |
3 低功耗后处理单元的硬件实现 | 第25-40页 |
·亚阈值导电性 | 第25-26页 |
·极低电压下工作的反相器 | 第26-29页 |
·反相器延时 | 第26-27页 |
·反相器的传输曲线 | 第27-29页 |
·反向器的具体实现 | 第29页 |
·极低电压下工作的异或门 | 第29-32页 |
·触发器单元 | 第32-35页 |
·极低电压工作下的SRAM设计 | 第35-36页 |
·随机源电路的简单实现 | 第36-37页 |
·电路结构的整体实现 | 第37-39页 |
·本章小结 | 第39-40页 |
4 实验结果与分析讨论 | 第40-48页 |
·仿真环境 | 第40-41页 |
·各单元仿真 | 第41-46页 |
·反相器的性能仿真 | 第41-42页 |
·异或门的性能仿真 | 第42页 |
·C~2MOS寄存器的性能仿真 | 第42-44页 |
·整体后处理单元的仿真分析 | 第44-46页 |
·本章小结 | 第46-48页 |
5 总结和展望 | 第48-50页 |
参考文献 | 第50-54页 |
作者简介 | 第54-55页 |
作者攻读硕士学位期间发表的论文 | 第55页 |