基于flash的USB Key安全控制芯片的测试验证
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 1 概述 | 第7-8页 |
| 2 研究背景 | 第8-14页 |
| 2.1 市场机遇与发展 | 第8-9页 |
| 2.1.1 全球USBKEY芯片发展 | 第8页 |
| 2.1.2 国内USBKEY片发展 | 第8-9页 |
| 2.2 规模及增长率 | 第9页 |
| 2.3 目标市场 | 第9-10页 |
| 2.3.1 市场细分 | 第9-10页 |
| 2.3.2 市场竞争概况 | 第10页 |
| 2.4 市场技术现状 | 第10-13页 |
| 2.5 产品技术定位 | 第13页 |
| 2.6 本章小结 | 第13-14页 |
| 3 芯片设计 | 第14-17页 |
| 3.1 功能简介 | 第14页 |
| 3.2 设计规格 | 第14-16页 |
| 3.2.1 芯片特性 | 第14-15页 |
| 3.2.2 芯片结构 | 第15-16页 |
| 3.3 典型应用 | 第16页 |
| 3.4 本章小结 | 第16-17页 |
| 4 芯片测试 | 第17-20页 |
| 4.1 芯片测试目的 | 第17页 |
| 4.2 芯片测试分类 | 第17-19页 |
| 4.2.1 验证测试 | 第17页 |
| 4.2.2 量产测试 | 第17-18页 |
| 4.2.3 可靠性测试 | 第18-19页 |
| 4.2.4 失效分析 | 第19页 |
| 4.3 本章小结 | 第19-20页 |
| 5 测试方案 | 第20-37页 |
| 5.1 测试策略 | 第20页 |
| 5.2 测试要点 | 第20-21页 |
| 5.3 具体测试方案 | 第21-36页 |
| 5.3.1 存储器 | 第21页 |
| 5.3.2 模拟模块 | 第21-26页 |
| 5.3.3 数字模块 | 第26-34页 |
| 5.3.4 可靠性测试 | 第34-36页 |
| 5.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 6 测试系统硬件设计 | 第37-44页 |
| 6.1 不同测试系统比较 | 第37页 |
| 6.2 模块化设计 | 第37-38页 |
| 6.3 测试平台实现方案 | 第38-43页 |
| 6.3.1 激励板设计实现 | 第38-41页 |
| 6.3.2 测试板设计实现 | 第41-43页 |
| 6.4 本章小结 | 第43-44页 |
| 7 软件平台设计 | 第44-55页 |
| 7.1 软件平台结构 | 第44页 |
| 7.2 PC端上位机软件 | 第44-47页 |
| 7.2.1 上位机界面 | 第45-47页 |
| 7.3 FMXXX端测试COS | 第47-50页 |
| 7.3.1 开发环境 | 第47页 |
| 7.3.2 测试COS架构 | 第47页 |
| 7.3.3 测试API函数集 | 第47页 |
| 7.3.4 命令字及其含义 | 第47-49页 |
| 7.3.5 BIST自测试程序 | 第49-50页 |
| 7.3.6 测试COS优缺点 | 第50页 |
| 7.4 LPC端激励COS | 第50-54页 |
| 7.4.1 指令集 | 第51-52页 |
| 7.4.2 上下位机通讯协议 | 第52-53页 |
| 7.4.3 帧定界符 | 第53页 |
| 7.4.4 命令帧格式 | 第53-54页 |
| 7.4.5 响应帧帧格式 | 第54页 |
| 7.5 本章小结 | 第54-55页 |
| 8 总结及展望 | 第55-58页 |
| 8.1 样片测试管理 | 第55页 |
| 8.2 失效样片管理 | 第55页 |
| 8.3 测试总结 | 第55-58页 |
| 8.3.1 样片测试结果 | 第55-56页 |
| 8.3.2 存在的不足及改进 | 第56-57页 |
| 8.3.3 测试覆盖率 | 第57-58页 |
| 9 参考文献 | 第58-59页 |
| 10 后记 | 第59-60页 |
