| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章.绪论 | 第10-12页 |
| 第2章 温度特性分析平台的框架和基本功能 | 第12-17页 |
| ·温度因子特性分析平台的介绍 | 第12-14页 |
| ·平台的硬件结构 | 第12页 |
| ·平台的软件结构 | 第12-14页 |
| ·平台的脚本解释机制 | 第14-17页 |
| 第3章 基于IC卡系统的结构和基本功能 | 第17-34页 |
| ·IC卡的应用现状和发展前景 | 第17-18页 |
| ·IC卡的数据存储模型设计 | 第18-23页 |
| ·两种IC卡的数据结构 | 第19-21页 |
| ·IC卡分区信息表数据实现 | 第21-22页 |
| ·IC卡读写规则 | 第22-23页 |
| ·IC卡的信息安全技术实现方案 | 第23-27页 |
| ·常用IC卡加密机制 | 第23页 |
| ·IC卡密码的安全缺陷 | 第23-24页 |
| ·保证IC卡信息安全的措施 | 第24-27页 |
| ·IC卡读取器的设计 | 第27-34页 |
| ·IC卡读写器的基本功能 | 第27页 |
| ·IC卡读写器的硬件结构 | 第27-29页 |
| ·IC卡读写器的软件体系 | 第29-33页 |
| ·实现的系统功能 | 第33-34页 |
| 第4章 基于IC卡温度测试系统和数据分析系统设计 | 第34-42页 |
| ·系统组成 | 第34-35页 |
| ·温度测试系统 | 第34页 |
| ·数据分析系统 | 第34-35页 |
| ·系统工作原理及使用方法 | 第35-42页 |
| ·温度测试系统 | 第35-40页 |
| ·数据分析系统 | 第40-42页 |
| 第5章 温度特性分析平台中软件构造及单元可靠性评估模块原理研究 | 第42-59页 |
| ·单元的性能退化及其可靠性描述 | 第42-45页 |
| ·系统单元性能退化描述 | 第42-45页 |
| ·系统单元性能曲线x(t)模型的初步研究 | 第45-46页 |
| ·性能流分析理论在系统寿命评估中的应用 | 第46-50页 |
| ·平台软件部分的设计与实现 | 第50-59页 |
| ·平台的软件外观 | 第50-59页 |
| 第6章 平台的应用实例、发展前景、技术展望 | 第59-65页 |
| ·平台的应用实例 | 第59-63页 |
| ·平台的发展前景和技术展望 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第68页 |