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基于统计学模型的纳米级容错电路关键技术研究

摘要第1-5页
Abstract第5-7页
目录第7-9页
图目录第9-12页
表目录第12-13页
第一章 绪论第13-29页
   ·论文研究背景第13-14页
   ·容错电路的国内外研究现状第14-26页
     ·静态容错方法第14-20页
     ·动态容错方法第20-24页
     ·其它的电路可靠性分析和设计方法第24页
     ·时序电路中时钟缺陷容错和修复第24-26页
   ·本论文的工作及结构第26-29页
第二章 基于马尔可夫随机场模型的抗噪电路设计第29-55页
   ·CMOS门电路的马尔可夫随机场模型第30-33页
     ·马尔可夫随机场(MRF)第30-31页
     ·CMOS门电路的MRF模型第31-33页
   ·基于 MRF模型的门电路设计与性能分析第33-44页
     ·基于 MRF模型的门电路设计第33-37页
     ·抗噪性能分析与仿真第37-44页
       ·噪声对门电路影响分析第38-39页
       ·MRF门电路抗噪性能分析第39-44页
   ·基于 MRF模型的电路结构化设计第44-54页
     ·CMOS电路到 MRF的结构映射第44-46页
     ·设计实例—8bits MRF_CLA第46-54页
       ·电路构成第47-48页
       ·性能测定及数据分析第48-54页
 本章小结第54-55页
第三章 组合电路概率转移矩阵模型及容错性能分析第55-93页
   ·CMOS组合电路输入输出转移概率矩阵的计算方法第56-70页
     ·CMOS门电路信号端概率转移矩阵表达第56-59页
     ·简单组合电路的概率转移矩阵计算第59-65页
     ·复杂电路概率转移矩阵的“分治法”计算第65-67页
     ·电路概率转移矩阵计算实例第67-70页
   ·基于概率转移矩阵的系统级电路的容错性能分析第70-76页
     ·基于概率转移矩阵的组合电路输入输出关系分析第71-72页
     ·矩阵分析方法第72-73页
       ·几种常用的范数定义第72-73页
       ·逆矩阵的摄动第73页
     ·基于概率转移矩阵的电路容错性能分析第73-76页
       ·容错性能的范数判断准则第74-75页
       ·容错性能的条件数判别准则第75-76页
   ·有效性验证方法的提出第76-81页
     ·门电路出现随机错误的仿真方法第77-79页
       ·门电路出错控制电路实现结构第77-78页
       ·控制信号产生与参数规定第78-79页
     ·仿真结果的后端分析方法第79页
     ·有效性验证实现流程第79-81页
   ·验证结果和数据分析第81-91页
     ·组合电路转移概率矩阵的有效性验证第81-85页
     ·容错性能的范数判别准则验证第85-89页
     ·容错性能的条件数判别准则验证第89-91页
 本章小结第91-93页
第四章 基于时压转换的时序电路时钟自恢复技术研究第93-117页
   ·时序电路中的时钟错误分析第94-97页
     ·工艺缺陷导致的时钟出错分析第94-96页
     ·时钟信号出错情况分类第96-97页
   ·基于时压转换的时钟自恢复电路拓扑原理第97-100页
   ·电路实现第100-106页
     ·时压转换电路第100-103页
       ·电路实现第101-102页
       ·参数选择第102-103页
     ·时钟缺陷检测电路第103-105页
     ·时钟逻辑合成电路第105-106页
     ·整个电路工作流程第106页
   ·仿真结果与数据分析第106-116页
     ·电路工作频率选择第107-109页
     ·电路的功耗计算第109-110页
     ·仿真结果与分析第110-116页
       ·时钟波形和延时分析第110-115页
       ·电路功耗第115-116页
 本章小结第116-117页
第五章 总结与展望第117-119页
   ·本文工作总结第117-118页
   ·进一步的研究工作第118-119页
参考文献第119-133页
作者在攻博期间发表的论文第133-135页
致谢第135-136页

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