基于统计学模型的纳米级容错电路关键技术研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-7页 |
目录 | 第7-9页 |
图目录 | 第9-12页 |
表目录 | 第12-13页 |
第一章 绪论 | 第13-29页 |
·论文研究背景 | 第13-14页 |
·容错电路的国内外研究现状 | 第14-26页 |
·静态容错方法 | 第14-20页 |
·动态容错方法 | 第20-24页 |
·其它的电路可靠性分析和设计方法 | 第24页 |
·时序电路中时钟缺陷容错和修复 | 第24-26页 |
·本论文的工作及结构 | 第26-29页 |
第二章 基于马尔可夫随机场模型的抗噪电路设计 | 第29-55页 |
·CMOS门电路的马尔可夫随机场模型 | 第30-33页 |
·马尔可夫随机场(MRF) | 第30-31页 |
·CMOS门电路的MRF模型 | 第31-33页 |
·基于 MRF模型的门电路设计与性能分析 | 第33-44页 |
·基于 MRF模型的门电路设计 | 第33-37页 |
·抗噪性能分析与仿真 | 第37-44页 |
·噪声对门电路影响分析 | 第38-39页 |
·MRF门电路抗噪性能分析 | 第39-44页 |
·基于 MRF模型的电路结构化设计 | 第44-54页 |
·CMOS电路到 MRF的结构映射 | 第44-46页 |
·设计实例—8bits MRF_CLA | 第46-54页 |
·电路构成 | 第47-48页 |
·性能测定及数据分析 | 第48-54页 |
本章小结 | 第54-55页 |
第三章 组合电路概率转移矩阵模型及容错性能分析 | 第55-93页 |
·CMOS组合电路输入输出转移概率矩阵的计算方法 | 第56-70页 |
·CMOS门电路信号端概率转移矩阵表达 | 第56-59页 |
·简单组合电路的概率转移矩阵计算 | 第59-65页 |
·复杂电路概率转移矩阵的“分治法”计算 | 第65-67页 |
·电路概率转移矩阵计算实例 | 第67-70页 |
·基于概率转移矩阵的系统级电路的容错性能分析 | 第70-76页 |
·基于概率转移矩阵的组合电路输入输出关系分析 | 第71-72页 |
·矩阵分析方法 | 第72-73页 |
·几种常用的范数定义 | 第72-73页 |
·逆矩阵的摄动 | 第73页 |
·基于概率转移矩阵的电路容错性能分析 | 第73-76页 |
·容错性能的范数判断准则 | 第74-75页 |
·容错性能的条件数判别准则 | 第75-76页 |
·有效性验证方法的提出 | 第76-81页 |
·门电路出现随机错误的仿真方法 | 第77-79页 |
·门电路出错控制电路实现结构 | 第77-78页 |
·控制信号产生与参数规定 | 第78-79页 |
·仿真结果的后端分析方法 | 第79页 |
·有效性验证实现流程 | 第79-81页 |
·验证结果和数据分析 | 第81-91页 |
·组合电路转移概率矩阵的有效性验证 | 第81-85页 |
·容错性能的范数判别准则验证 | 第85-89页 |
·容错性能的条件数判别准则验证 | 第89-91页 |
本章小结 | 第91-93页 |
第四章 基于时压转换的时序电路时钟自恢复技术研究 | 第93-117页 |
·时序电路中的时钟错误分析 | 第94-97页 |
·工艺缺陷导致的时钟出错分析 | 第94-96页 |
·时钟信号出错情况分类 | 第96-97页 |
·基于时压转换的时钟自恢复电路拓扑原理 | 第97-100页 |
·电路实现 | 第100-106页 |
·时压转换电路 | 第100-103页 |
·电路实现 | 第101-102页 |
·参数选择 | 第102-103页 |
·时钟缺陷检测电路 | 第103-105页 |
·时钟逻辑合成电路 | 第105-106页 |
·整个电路工作流程 | 第106页 |
·仿真结果与数据分析 | 第106-116页 |
·电路工作频率选择 | 第107-109页 |
·电路的功耗计算 | 第109-110页 |
·仿真结果与分析 | 第110-116页 |
·时钟波形和延时分析 | 第110-115页 |
·电路功耗 | 第115-116页 |
本章小结 | 第116-117页 |
第五章 总结与展望 | 第117-119页 |
·本文工作总结 | 第117-118页 |
·进一步的研究工作 | 第118-119页 |
参考文献 | 第119-133页 |
作者在攻博期间发表的论文 | 第133-135页 |
致谢 | 第135-136页 |