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基于16nm工艺集成电路低功耗物理设计技术研究

摘要第6-7页
ABSTRACT第7-8页
符号对照表第13-14页
缩略语对照表第14-17页
第一章 绪论第17-21页
    1.1 课题的研究背景和意义第17-18页
    1.2 国内外研究第18-19页
    1.3 论文主要工作第19-21页
第二章 低功耗设计技术第21-35页
    2.1 功耗来源分析第21-23页
        2.1.1 动态功耗第21-22页
        2.1.2 静态功耗第22-23页
    2.2 低功耗设计方法第23-33页
        2.2.1 多电源多电压技术第23-28页
        2.2.2 门控时钟技术第28-29页
        2.2.3 电源关断技术第29-31页
        2.2.4 多阈值电压技术第31页
        2.2.5 衬底偏置技术第31-33页
    2.3 本章小结第33-35页
第三章 电源关断技术研究第35-43页
    3.1 电源开关单元机制第35-36页
        3.1.1 精细结构门控电源开关第35页
        3.1.2 粗制结构门控电源开关第35-36页
    3.2 电源开关分布方式第36-38页
        3.2.1 环形电源开关第36-37页
        3.2.2 柱形电源开关第37-38页
    3.3 电源开关信号控制链第38-39页
    3.4 电源关断技术应用的特殊单元第39-42页
        3.4.1 隔离单元第39-41页
        3.4.2 状态保持单元第41-42页
    3.5 本章小结第42-43页
第四章 基于CPUCore模块的低功耗物理设计第43-65页
    4.1 低功耗UPF文件标准第43-44页
    4.2 模块低功耗物理设计流程第44-64页
        4.2.1 数据准备第44-45页
        4.2.2 布局规划第45-50页
        4.2.3 标准单元布局第50-54页
        4.2.4 时钟树综合第54-59页
        4.2.5 时钟树综合后时序优化第59-61页
        4.2.6 绕线第61-63页
        4.2.7 绕线后的时序优化第63-64页
    4.3 本章小结第64-65页
第五章 模块功耗仿真结果及分析第65-85页
    5.1 早期电压降分析第65-72页
        5.1.1 早期电压降分析流程第66-67页
        5.1.2 ERA分析结果及修复方法第67-72页
    5.2 静态电压降分析第72-79页
        5.2.1 静态电压降分析流程第72-76页
        5.2.2 电压降分析结果第76-79页
    5.3 电迁移效应分析第79-81页
        5.3.1 电迁移分析流程第80-81页
        5.3.2 电迁移分析结果第81页
    5.4 峰值电流分析第81-83页
    5.5 本章小结第83-85页
第六章 总结与展望第85-87页
    6.1 总结第85页
    6.2 展望第85-87页
参考文献第87-91页
致谢第91-93页
作者简介第93-94页

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