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微电子封装EMC-Cu界面层裂萌生力学行为研究

摘要第3-4页
Abstract第4-5页
第一章 绪论第8-16页
    §1.1 选题依据及研究意义第8-9页
    §1.2 国内外研究现状和发展态势第9-12页
    §1.3 研究思路与技术路线第12-13页
    §1.4 本文研究主要内容及创新点第13-16页
        §1.4.1 本文研究主要内容第13-15页
        §1.4.2 本文研究创新点第15-16页
第二章 界面层裂相关理论及测试实验介绍第16-25页
    §2.1 断裂力学理论第16-19页
    §2.2 内聚力法第19-22页
    §2.3 典型界面层裂实验第22-24页
    §2.4 本章小结第24-25页
第三章 基于内聚力模型的界面层裂萌生及扩展仿真预测模型的建模方法研究第25-51页
    §3.1 内聚力模型中界面层裂萌生及扩展的相关判断准则第25-29页
    §3.2 极限拉伸强度的测试方法和要求第29-34页
    §3.3 同质界面层裂萌生及扩展的仿真建模方法第34-40页
        §3.3.1 同质材料的界面层裂萌生及扩展模型第34-35页
        §3.3.2 极限拉伸强度对仿真分析结果的影响第35-36页
        §3.3.3 内聚力单元尺寸划分对仿真分析结果的影响第36-40页
    §3.4 EMC-Cu异质界面层裂萌生及扩展仿真分析第40-49页
        §3.4.1 EMC-Cu异质界面层裂萌生及扩展模型第40-43页
        §3.4.2 剪切应力对EMC-Cu界面层裂萌生点应力变化的影响第43-47页
        §3.4.3 极限剪切应力对EMC-Cu界面层裂萌生及扩展仿真分析的影响第47-49页
    §3.5 本章小结第49-51页
第四章 EMC-Cu界面层裂萌生力学性能测试实验第51-62页
    §4.1 杠杆拉伸试验装置第51-52页
    §4.2 无EMC-Cu界面层裂实验样品制备第52-58页
        §4.2.1 实验样品塑封工艺第53-56页
        §4.2.2 实验样品切割工艺第56-58页
        §4.2.3 加载块粘接工艺第58页
    §4.3 实验测试第58-61页
    §4.4 本章小结第61-62页
第五章 EMC-Cu界面层裂萌生及扩展的内聚力模型参数测定第62-75页
    §5.1 EMC\Cu材料参数测试第62-65页
    §5.2 EMC-Cu界面层裂扩展测试第65-68页
        §5.2.1 含预置层裂测试样品制备工艺第66-67页
        §5.2.2 EMC-Cu界面层裂扩展测试结果第67-68页
    §5.3 EMC-Cu层裂扩展临界能量释放率计算第68-72页
        §5.3.1 初始裂纹长度计算第68-70页
        §5.3.2 VCCM法计算能量释放率第70-71页
        §5.3.3 内聚力法模拟EMC-Cu层裂扩展第71-72页
    §5.4 层裂萌生极限拉伸强度测定第72-73页
    §5.5 本章小结第73-75页
第六章 总结与展望第75-77页
    §6.1 全文总结第75-76页
    §6.2 研究展望第76-77页
参考文献第77-80页
致谢第80-81页
作者在攻读硕士期间的主要研究成果第81页

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