| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 研究工作的背景与提出 | 第9-11页 |
| 1.2 本领域国内外研究现状与研究材料及方法 | 第11-18页 |
| 1.2.1 引线键合在国内外研究现状 | 第11-14页 |
| 1.2.2 研究方法 | 第14-18页 |
| 1.2.2.1 研究材料 | 第14-15页 |
| 1.2.2.2 实验器材 | 第15-17页 |
| 1.2.2.3 实验分析方法 | 第17-18页 |
| 1.3 本文的主要贡献与创新 | 第18页 |
| 1.4 本论文的结构安排 | 第18-19页 |
| 第二章 键合工艺介绍 | 第19-27页 |
| 2.1 引线键合工艺介绍 | 第19-21页 |
| 2.2 键合点的外观及截面形貌 | 第21-24页 |
| 2.2.1 键合点的外观 | 第21-22页 |
| 2.2.2 键合点横截面形貌 | 第22-24页 |
| 2.3 丝球键合过程及有效结合分析 | 第24-26页 |
| 2.3.1 丝球键合过程 | 第24-25页 |
| 2.3.2 键合点的有效结合分析 | 第25-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 键合点的力学性能 | 第27-44页 |
| 3.1 剪切试验及其失效机理 | 第27-28页 |
| 3.1.1 剪切试验 | 第27-28页 |
| 3.1.2 剪切试验的失效机理 | 第28页 |
| 3.2 拉伸试验及其失效机理 | 第28-29页 |
| 3.3 金丝样品的剪切和拉伸试验 | 第29-33页 |
| 3.3.1 金丝样品的剪切试验 | 第30-32页 |
| 3.3.2 金丝样品的拉伸试验 | 第32-33页 |
| 3.4 铜丝样品的剪切和拉伸试验 | 第33-37页 |
| 3.4.1 铜丝样品的剪切试验 | 第34-36页 |
| 3.4.2 铜丝样品的拉伸试验 | 第36-37页 |
| 3.5 银丝样品的剪切和拉伸试验 | 第37-40页 |
| 3.5.1 银丝样品的剪切试验 | 第38-39页 |
| 3.5.2 银丝样品的拉伸试验 | 第39-40页 |
| 3.6 三种材料键合点断裂力学稳定性比较 | 第40-43页 |
| 3.7 本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 键合点界面的金属间互化物 | 第44-60页 |
| 4.1 高温存储试验的条件 | 第45页 |
| 4.2 Cu-Al金属间互化物的生长与演变 | 第45-51页 |
| 4.2.1 高温存储过程中Cu-Al的金属间互化物 | 第45-50页 |
| 4.2.2 Cu-Al金属间互化物演变模型 | 第50-51页 |
| 4.3 Ag-Al金属间互化物的生长与演变 | 第51-55页 |
| 4.3.1 高温存储过程中Ag-Al的金属间互化物 | 第51-54页 |
| 4.3.2 Ag-Al金属间互化物演变模型 | 第54-55页 |
| 4.4 Au-Al金属间互化物的生长及演变 | 第55-56页 |
| 4.5 对比分析金属间互化物的生长和演变 | 第56-58页 |
| 4.6 本章小结 | 第58-60页 |
| 第五章 封装可靠性中有限元的应用 | 第60-64页 |
| 5.1 ANSYS在封装可靠性中的应用 | 第60页 |
| 5.2 结构设计及引线框架对散热的影响 | 第60-63页 |
| 5.3 本章小结 | 第63-64页 |
| 第六章 全文总结与展望 | 第64-65页 |
| 6.1 全文总结 | 第64页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第70-71页 |