| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 FPGA发展概述 | 第10-11页 |
| 1.2 FPGA测试技术的必要性和挑战 | 第11-12页 |
| 1.3 论文的研究内容 | 第12-13页 |
| 1.4 论文的结构安排 | 第13-14页 |
| 第二章 FPGA测试基础 | 第14-24页 |
| 2.1 FPGA的基本结构 | 第14-15页 |
| 2.2 FPGA的故障模型 | 第15-18页 |
| 2.3 FPGA测试技术现状 | 第18-23页 |
| 2.3.1 基于ATE设备的测试方法 | 第18-19页 |
| 2.3.2 基于JBits的测试方法 | 第19-20页 |
| 2.3.3 BIST测试方法 | 第20-21页 |
| 2.3.4 基于布线规律的测试方法 | 第21-22页 |
| 2.3.5 现有IR测试方法总结 | 第22-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 图论基础 | 第24-31页 |
| 3.1 图的相关定义 | 第24-25页 |
| 3.2 图的连通性与节点不相交路径 | 第25-27页 |
| 3.3 匹配与边着色 | 第27页 |
| 3.4 图的遍历 | 第27-29页 |
| 3.5 图论中的重要定理 | 第29-30页 |
| 3.6 本章总结 | 第30-31页 |
| 第四章 Xilinx FPGA互连资源的通用测试模型 | 第31-48页 |
| 4.1 Virtex系列FPGA简介 | 第31页 |
| 4.2 Virtex系列FPGA基本单元 | 第31-41页 |
| 4.2.1 Virtex系列FPGA中的互连金属线 | 第33-38页 |
| 4.2.2 XC4000系列FPGA中的PIP | 第38-39页 |
| 4.2.3 Virtex系列FPGA中的开关矩阵 | 第39-41页 |
| 4.3 Virtex系列互连资源模型 | 第41-47页 |
| 4.3.1 SM的子开关矩阵 | 第41-42页 |
| 4.3.2 互连资源的分层结构 | 第42-44页 |
| 4.3.3 互连资源通用模型 | 第44-45页 |
| 4.3.4 Virtex FPGA的互连资源模型 | 第45-47页 |
| 4.4 本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 Xilinx FPGA互连资源的自动化测试方法 | 第48-66页 |
| 5.1 互连资源的邻接矩阵 | 第48-49页 |
| 5.2 互连资源配置算法 | 第49-54页 |
| 5.2.1 互连资源测试要求 | 第49-50页 |
| 5.2.2 寻找可布通路径的算法 | 第50-52页 |
| 5.2.3 Virtex-5 互连资源的可布通路径 | 第52-53页 |
| 5.2.4 寻找节点不相交路径的算法 | 第53-54页 |
| 5.3 测试配置的自动生成 | 第54-56页 |
| 5.4 故障映射算法和测试平台介绍 | 第56-59页 |
| 5.4.1 测试平台 | 第57-58页 |
| 5.4.2 故障映射算法 | 第58-59页 |
| 5.5 自动化测试方法实验 | 第59-65页 |
| 5.5.1 Virtex FPGA测试图形生成 | 第59-61页 |
| 5.5.2 Virtex-II FPGA测试图形生成 | 第61-62页 |
| 5.5.3 测试结果和实验分析 | 第62-65页 |
| 5.6 本章小结 | 第65-66页 |
| 第六章 总结和研究展望 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 附录A 自动生成Virtex FPGA配置图形 | 第70-80页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第80-81页 |
