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脉冲等离子体刻蚀工艺中极板上离子能量和角度分布的研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
1 绪论第10-20页
    1.1 等离子体技术的工业应用第10-12页
    1.2 加工基板偏压研究进展第12-13页
    1.3 脉冲调制等离子体研究进展第13-15页
    1.4 离子能量和角度分布研究进展第15-19页
    1.5 本文研究内容和结构安排第19-20页
2 数值模型介绍第20-27页
    2.1 反应器模型第20-24页
    2.2 鞘层混合模型第24-27页
        2.2.1 流体模型第24-25页
        2.2.2 蒙特卡洛方法第25-27页
3 脉冲偏压Ar/C_4F_8等离子体的多尺度模拟第27-36页
    3.1 离子能量分布(IED)第28-31页
        3.1.1 脉冲偏压波形对lED的影响第28-29页
        3.1.2 放电参数对IED的影响第29-31页
    3.2 离子角度分布(IAD)第31-35页
        3.2.1 脉冲偏压波形对IAD的影响第31-33页
        3.2.2 放电参数对IAD的影响第33-35页
    3.3 本章小结第35-36页
4 脉冲调制射频Ar/Cl_2等离子体的多尺度模拟第36-50页
    4.1 放电参数对离子密度分布的影响第37-41页
    4.2 离子能量分布和角度分布(IEAD)第41-49页
        4.2.1 脉冲偏压波形的影响第41-43页
        4.2.2 放电参数的影响第43-49页
    4.3 本章小结第49-50页
结论与展望第50-51页
参考文献第51-55页
攻读硕士学位期间发表学术论文情况第55-56页
致谢第56-57页

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