| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 文献综述 | 第8-50页 |
| ·引言 | 第8-9页 |
| ·样品的消解方法 | 第9-12页 |
| ·干灰化法 | 第9页 |
| ·湿法处理 | 第9-11页 |
| ·湿消解法 | 第10页 |
| ·加压湿消解法 | 第10页 |
| ·浸提法 | 第10-11页 |
| ·微波消解法 | 第11-12页 |
| ·微波消解的原理 | 第11页 |
| ·微波消解体系的选择 | 第11-12页 |
| ·样品预处理 | 第12-14页 |
| ·砷的测定方法 | 第14-19页 |
| ·分光光度法 | 第14-16页 |
| ·二乙基二硫化氨基甲酸银比色法(Ag-DDC) | 第14页 |
| ·砷化氢-钼蓝光度法 | 第14-15页 |
| ·砷斑法 | 第15页 |
| ·催化动力学光度法 | 第15页 |
| ·阻抑动力学光度法 | 第15-16页 |
| ·荧光碎灭法 | 第16页 |
| ·光谱法 | 第16-18页 |
| ·原子吸收光谱法(AAS) | 第16-17页 |
| ·氢化物发生-原子荧光光谱法(HG-AFS) | 第17页 |
| ·电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES) | 第17页 |
| ·X-射线荧光法(XRF) | 第17-18页 |
| ·电感耦-合等离子体质谱法(ICP-MS) | 第18页 |
| ·电化学法 | 第18页 |
| ·中子活化分析法 | 第18-19页 |
| ·氢化物发生法 | 第19-29页 |
| ·概述 | 第19页 |
| ·氢化物发生方法 | 第19-21页 |
| ·金属-酸还原体系 | 第20页 |
| ·硼氢化钠-酸体系 | 第20-21页 |
| ·碱性模式 | 第21页 |
| ·电化学方法 | 第21页 |
| ·氢化物发生的分类 | 第21-24页 |
| ·氢化物发生法中的干扰及消除 | 第24-29页 |
| ·干扰的分类 | 第24-27页 |
| ·干扰的消除 | 第27-29页 |
| ·原子荧光光谱法 | 第29-38页 |
| ·原子荧光光谱法的原理 | 第29-32页 |
| ·原子荧光光谱的产生 | 第29-30页 |
| ·原子荧光的类型 | 第30-31页 |
| ·荧光猝灭与荧光量子效率 | 第31页 |
| ·被测物浓度与荧光强度之间的关系 | 第31-32页 |
| ·原子荧光光谱仪 | 第32-38页 |
| ·激发光源 | 第32-35页 |
| ·原子化器 | 第35-37页 |
| ·检测器 | 第37-38页 |
| ·原子荧光技术的研究与应用发展 | 第38-43页 |
| ·原子荧光技术在相关领域内的应用 | 第38-39页 |
| ·多种元素同时测定的研究 | 第39-40页 |
| ·原子荧光检测技术与其它技术的联用研究 | 第40-43页 |
| ·本研究的意义 | 第43页 |
| ·参考文献 | 第43-50页 |
| 第二章 氢化物发生-原子荧光法快速测定食品中痕量砷 | 第50-72页 |
| ·引言 | 第50-52页 |
| ·实验部分 | 第52-55页 |
| ·仪器和试剂 | 第52-53页 |
| ·样品的消化 | 第53-54页 |
| ·实验步骤 | 第54-55页 |
| ·标准曲线的测定 | 第54-55页 |
| ·样品的测定 | 第55页 |
| ·结果与讨论 | 第55-69页 |
| ·硝酸根及亚硝酸根对硫脉预还原法的干扰 | 第56-59页 |
| ·硝酸根及亚硝酸根对L-半胱氨酸预还原法的干扰 | 第59-60页 |
| ·用尿素除去对亚硝酸根的干扰 | 第60-62页 |
| ·仪器条件的优化 | 第62-63页 |
| ·负高压的影响 | 第62页 |
| ·灯电流灯的影响 | 第62-63页 |
| ·载气流量的影响 | 第63页 |
| ·屏蔽气流量的影响 | 第63页 |
| ·样品测定所需试剂及试样条件的优化 | 第63-67页 |
| ·样品酸度的影响 | 第63-64页 |
| ·载流酸度影响 | 第64-65页 |
| ·硼氢化钠浓度的影响 | 第65-66页 |
| ·L-半胱氨酸用量的影响 | 第66-67页 |
| ·标准曲线，检出限，精密度 | 第67-68页 |
| ·标准样品的测定 | 第68-69页 |
| ·小结 | 第69-70页 |
| ·参考文献 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72-74页 |