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先进的3D叠层芯片封装工艺及可靠性研究

摘要第1-5页
Abstract第5-6页
引言第6-8页
第一章 绪论第8-19页
   ·叠层式3D封装的结构与工艺第8-10页
   ·圆片减薄技术第10-14页
   ·便携式电子产品的叠层3D封装技术符合MCP的技术要求第14页
   ·叠层式3D封装的性能特点和技术优势第14-15页
   ·裸片堆叠和封装堆叠的性能特点第15-16页
   ·叠层式3D封装体的散热问题第16页
   ·叠层式3D封装技术的应用前景第16-19页
第二章 3D叠层芯片封装工艺难点及解决方案第19-36页
   ·超薄圆片减薄、划片第19-22页
   ·崩裂成因及对策第22-25页
   ·薄裸芯片贴装第25-28页
   ·低弧度金线及立体键合第28-30页
   ·LQFP-3D技术的MSL第30-36页
第三章 芯片叠层封装的工艺及可靠性验证第36-48页
   ·引言第36页
   ·叠层封装工艺验证第36-43页
   ·叠层封装工艺的可靠性认证第43-47页
   ·本章小结第47-48页
第四章 USB四层堆叠球焊试验第48-58页
   ·背景介绍第48-49页
   ·堆叠球焊工艺试验第49-50页
   ·堆叠封装打线特性分析第50-55页
   ·堆叠封装力学特性测试第55-57页
   ·本章小结第57-58页
第五章 总结与展望第58-61页
   ·论文总结第58页
   ·展望---3D封装技术解决芯片封装日益缩小的挑战第58-61页
参考文献第61-62页
致谢第62-63页

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