| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-20页 |
| ·课题背景简介 | 第9-11页 |
| ·LED工作状态下结温的测量方法分类 | 第11-12页 |
| ·JEDEC关于LED结温电学测量方法的标准 | 第12-17页 |
| ·K系数定标 | 第12-13页 |
| ·LED稳定工作时的结温测量 | 第13-15页 |
| ·实际测量中的非理想因素 | 第15页 |
| ·LED结温测量中的加热与冷却效应 | 第15-17页 |
| ·LED正向偏压关于正向偏置电流阶跃的响应曲线 | 第17-19页 |
| ·LED系统的RC网络模型 | 第17-18页 |
| ·T3STER | 第18-19页 |
| ·本文主要研究内容 | 第19-20页 |
| 第二章 基于KEITHLEY S2400源表的实验平台及实验 | 第20-32页 |
| ·实验平台 | 第20-21页 |
| ·实验方法 | 第21-23页 |
| ·K系数测量方法 | 第21页 |
| ·结温测量方法 | 第21页 |
| ·不同测量电流下的K系数与结温测量 | 第21页 |
| ·电压加热曲线测量 | 第21-23页 |
| ·实验结果与分析 | 第23-31页 |
| ·LED在测量过程中的加热和冷却 | 第23-24页 |
| ·不同测量电流下测得的K系数 | 第24-25页 |
| ·不同测量电流下测得的结温 | 第25-26页 |
| ·不同采样频率下测得的K系数与结温 | 第26-27页 |
| ·不同器件的加热曲线 | 第27-28页 |
| ·同一芯片不同封装的加热曲线 | 第28-29页 |
| ·不同封装阶段的加热曲线 | 第29-31页 |
| ·本章总结 | 第31-32页 |
| 第三章 基于NI5922数据采集卡的实验平台及实验 | 第32-64页 |
| ·实验平台 | 第32-34页 |
| ·实验方法 | 第34-59页 |
| ·理想的LED电压响应曲线的获得 | 第34-51页 |
| ·采样频率的选取 | 第34-35页 |
| ·电流过充的补偿 | 第35-37页 |
| ·动态电阻的研究 | 第37-43页 |
| ·快速开关电路 | 第43-45页 |
| ·S2400上升沿对LED的加热 | 第45-48页 |
| ·切换时间的补偿方法 | 第48-50页 |
| ·时间零点的计算 | 第50-51页 |
| ·K系数测量方法 | 第51页 |
| ·结温测量方法 | 第51-52页 |
| ·热阻的测量方法 | 第52-59页 |
| ·ETM测量结温的方法求热阻 | 第52-53页 |
| ·电压响应曲线拟合的方法求热阻 | 第53-59页 |
| ·实验结果与分析 | 第59-64页 |
| ·不同测量电流下的测量结果 | 第59-60页 |
| ·不同采样频率下的测量结果 | 第60-61页 |
| ·热阻测量结果与分析 | 第61-64页 |
| 第四章 总结与展望 | 第64-67页 |
| 参考文献 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 研究生期间科研成果 | 第69-70页 |