致谢 | 第1-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7-10页 |
1 绪论 | 第10-14页 |
·课题研究的背景和意义 | 第10-12页 |
·自动测试向量生成算法研究的现状 | 第10-11页 |
·测试生成算法的发展趋势 | 第11-12页 |
·课题研究的内容 | 第12页 |
·论文主要内容安排 | 第12-14页 |
2 组合电路故障测试研究 | 第14-24页 |
·电路故障测试原理 | 第14-16页 |
·逻辑故障模型 | 第14-15页 |
·组合电路的故障检测原理 | 第15-16页 |
·组合电路故障测试的经典算法 | 第16-23页 |
·通路敏化法 | 第17-18页 |
·D算法 | 第18-20页 |
·布尔差分法 | 第20-23页 |
·本章小结 | 第23-24页 |
3 组合电路中单固定型故障测试向量生成算法 | 第24-35页 |
·单固定型故障测试的基本知识 | 第24-25页 |
·基本概念 | 第24-25页 |
·符号定义 | 第25页 |
·单固定型故障测试向量生成算法 | 第25-33页 |
·基本知识 | 第25-27页 |
·单固定型故障测试向量生成算法描述 | 第27-30页 |
·实例分析 | 第30-33页 |
·实验结果分析 | 第33-34页 |
·本章小结 | 第34-35页 |
4 基于SAT的故障字典生成算法 | 第35-44页 |
·故障字典的基本知识 | 第35页 |
·故障字典 | 第35-38页 |
·故障字典生成方案 | 第36-37页 |
·故障字典生成算法 | 第37-38页 |
·故障诊断树 | 第38-41页 |
·故障诊断树生成方案 | 第39-40页 |
·故障诊断树的算法 | 第40-41页 |
·实验结果分析 | 第41-43页 |
·本章小结 | 第43-44页 |
5 通路时延故障测试向量生成算法 | 第44-56页 |
·时延故障测试的基本知识 | 第44-50页 |
·基本概念 | 第44-45页 |
·鲁棒性测试与非鲁棒性测试 | 第45-46页 |
·时延故障测试 | 第46-48页 |
·7值逻辑系统 | 第48-50页 |
·基于SAT可满足性的通路时延故障测试向量生成算法 | 第50-54页 |
·基本知识 | 第50-52页 |
·通路时延故障测试向量生成算法描述 | 第52-53页 |
·实例分析 | 第53-54页 |
·实验结果分析 | 第54-55页 |
·本章小结 | 第55-56页 |
6 总结和展望 | 第56-58页 |
·论文工作终结 | 第56-57页 |
·工作展望 | 第57-58页 |
参考文献 | 第58-61页 |
作者简历 | 第61-63页 |
学位论文数据集 | 第63页 |