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基于SAT的VLSI测试向量自动生成技术

致谢第1-6页
摘要第6-7页
ABSTRACT第7-10页
1 绪论第10-14页
   ·课题研究的背景和意义第10-12页
     ·自动测试向量生成算法研究的现状第10-11页
     ·测试生成算法的发展趋势第11-12页
   ·课题研究的内容第12页
   ·论文主要内容安排第12-14页
2 组合电路故障测试研究第14-24页
   ·电路故障测试原理第14-16页
     ·逻辑故障模型第14-15页
     ·组合电路的故障检测原理第15-16页
   ·组合电路故障测试的经典算法第16-23页
     ·通路敏化法第17-18页
     ·D算法第18-20页
     ·布尔差分法第20-23页
   ·本章小结第23-24页
3 组合电路中单固定型故障测试向量生成算法第24-35页
   ·单固定型故障测试的基本知识第24-25页
     ·基本概念第24-25页
     ·符号定义第25页
   ·单固定型故障测试向量生成算法第25-33页
     ·基本知识第25-27页
     ·单固定型故障测试向量生成算法描述第27-30页
     ·实例分析第30-33页
   ·实验结果分析第33-34页
   ·本章小结第34-35页
4 基于SAT的故障字典生成算法第35-44页
   ·故障字典的基本知识第35页
   ·故障字典第35-38页
     ·故障字典生成方案第36-37页
     ·故障字典生成算法第37-38页
   ·故障诊断树第38-41页
     ·故障诊断树生成方案第39-40页
     ·故障诊断树的算法第40-41页
   ·实验结果分析第41-43页
   ·本章小结第43-44页
5 通路时延故障测试向量生成算法第44-56页
   ·时延故障测试的基本知识第44-50页
     ·基本概念第44-45页
     ·鲁棒性测试与非鲁棒性测试第45-46页
     ·时延故障测试第46-48页
     ·7值逻辑系统第48-50页
   ·基于SAT可满足性的通路时延故障测试向量生成算法第50-54页
     ·基本知识第50-52页
     ·通路时延故障测试向量生成算法描述第52-53页
     ·实例分析第53-54页
   ·实验结果分析第54-55页
   ·本章小结第55-56页
6 总结和展望第56-58页
   ·论文工作终结第56-57页
   ·工作展望第57-58页
参考文献第58-61页
作者简历第61-63页
学位论文数据集第63页

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