基于荧光寿命的光纤测温系统的优化设计
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第一章 绪论 | 第10-15页 |
·引言 | 第10页 |
·国内外研究现状 | 第10-12页 |
·课题的目的及意义 | 第12-13页 |
·课题的主要研究内容 | 第13-15页 |
第二章 荧光寿命测温法的测温机理 | 第15-20页 |
·荧光的产生机理 | 第15-16页 |
·荧光物质的激发光谱与发射光谱 | 第16-17页 |
·荧光激发光谱 | 第16页 |
·荧光发射光谱 | 第16-17页 |
·荧光寿命测温原理 | 第17-19页 |
·本章小结 | 第19-20页 |
第三章 传感环节的优化设计 | 第20-37页 |
·荧光材料和激励光源的选择 | 第20-24页 |
·荧光材料的选择 | 第20-22页 |
·激励光源的选择 | 第22-24页 |
·系统光路的设计 | 第24-25页 |
·荧光余辉的非指数分量的分析 | 第25-34页 |
·荧光强度对荧光寿命影响实验 | 第25-27页 |
·荧光余辉的指数变化规律测量 | 第27页 |
·荧光余辉的非指数变化的机理分析 | 第27-31页 |
·荧光余辉变化与光谱的关系 | 第31页 |
·荧光余辉非指数程度的量化比较 | 第31-34页 |
·常用材料的温敏特性实验 | 第34-36页 |
·本章小结 | 第36-37页 |
第四章 数学模型建立与数据处理算法的优选 | 第37-70页 |
·数据处理方法的简介 | 第37-39页 |
·数学模型的建立 | 第39-40页 |
·单指数荧光余辉的数据处理方法分析 | 第40-59页 |
·最小二乘拟合法 | 第40-45页 |
·积分面积比值法 | 第45-49页 |
·FFT算法 | 第49-54页 |
·Levenberg-Marquardt算法 | 第54-58页 |
·几种仿真算法的比较 | 第58-59页 |
·双指数荧光余辉的数据处理方法分析 | 第59-69页 |
·传统方法的双指数荧光余辉数据处理分析 | 第59-62页 |
·Prony法的引入 | 第62-63页 |
·Prony法在荧光测温中的实现 | 第63-67页 |
·Prony法的数据仿真 | 第67-68页 |
·几种方法的仿真双指数模型时的比较 | 第68-69页 |
·本章小结 | 第69-70页 |
第五章 检测电路的优化设计 | 第70-79页 |
·光电器件的线性优化问题 | 第70-73页 |
·放大器的频带问题 | 第73-76页 |
·噪声与干扰抑制 | 第76-78页 |
·本章小结 | 第78-79页 |
第六章 整机实验 | 第79-82页 |
·实验安排 | 第79页 |
·温度标定及测温实验 | 第79-81页 |
·改进实验 | 第81-82页 |
第七章 结论 | 第82-84页 |
参考文献 | 第84-87页 |
在学研究成果 | 第87-88页 |
致谢 | 第88页 |