| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| 1.1 课题背景和意义 | 第12-13页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.2.1 国外现状 | 第13-14页 |
| 1.2.2 国内现状 | 第14-15页 |
| 1.3 本文主要内容和章节安排 | 第15-18页 |
| 1.3.1 主要内容 | 第15页 |
| 1.3.2 章节安排 | 第15-18页 |
| 第2章 空间环境下电路的行为及验证 | 第18-30页 |
| 2.1 宇宙空间辐照环境概述 | 第18-24页 |
| 2.1.1 空间辐射环境 | 第18-20页 |
| 2.1.2 空间辐射效应 | 第20-23页 |
| 2.1.3 针对辐射效应的防护措施 | 第23-24页 |
| 2.2 在轨光学遥感专用处理芯片介绍 | 第24-29页 |
| 2.3 本章总结 | 第29-30页 |
| 第3章 航天专用数字芯片验证方法 | 第30-38页 |
| 3.1 芯片验证技术的发展 | 第30-32页 |
| 3.2 芯片验证方法分类 | 第32-34页 |
| 3.2.1 功能验证 | 第33页 |
| 3.2.2 形式化验证 | 第33页 |
| 3.2.3 时序验证 | 第33页 |
| 3.2.4 物理验证 | 第33-34页 |
| 3.3 注错技术在航天专用芯片验证中的应用 | 第34-36页 |
| 3.3.1 物理故障注入 | 第34-35页 |
| 3.3.2 软件故障注入 | 第35页 |
| 3.3.3 仿真故障注入 | 第35-36页 |
| 3.4 本章总结 | 第36-38页 |
| 第4章 在轨光学遥感专用处理芯片抗辐照电路验证环境 | 第38-50页 |
| 4.1 验证环境架构 | 第38-39页 |
| 4.2 抗辐照电路验证方案 | 第39-40页 |
| 4.3 单粒子效应在电路中的模拟实现 | 第40-48页 |
| 4.3.1 单粒子效应的故障模拟 | 第40-44页 |
| 4.3.2 注入错误对象的筛选机制 | 第44-48页 |
| 4.4 本章总结 | 第48-50页 |
| 第5章 在轨光学遥感专用处理芯片的实验验证 | 第50-64页 |
| 5.1 抗辐照电路通用验证平台设计 | 第50-52页 |
| 5.2 抗辐照电路仿真结果 | 第52-61页 |
| 5.2.1 时钟电路故障注入仿真 | 第53-54页 |
| 5.2.2 复位电路故障注入仿真 | 第54-56页 |
| 5.2.3 基于组合逻辑故障注入的验证 | 第56-58页 |
| 5.2.4 基于存储单元故障注入的验证 | 第58-61页 |
| 5.3 实验结论 | 第61-63页 |
| 5.4 本章总结 | 第63-64页 |
| 第6章 结论 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 致谢 | 第70页 |