辐照环境下时钟数据恢复电路稳定性研究
摘要 | 第5-7页 |
abstract | 第7-9页 |
缩略词表 | 第18-19页 |
第一章 绪论 | 第19-34页 |
1.1 课题研究背景 | 第19-22页 |
1.2 课题研究现状和挑战 | 第22-30页 |
1.2.1 时钟数据恢复电路简介 | 第22-23页 |
1.2.2 激光评测SEE技术现状 | 第23-25页 |
1.2.3 单粒子模拟技术研究现状 | 第25-27页 |
1.2.4 辐射环境下CDR研究现状和挑战 | 第27-29页 |
1.2.5 相关研究小结 | 第29-30页 |
1.3 课题来源和课题的意义 | 第30-31页 |
1.4 本文的主要内容与贡献 | 第31-32页 |
1.5 论文组织结构 | 第32-34页 |
第二章 单粒子效应和脉冲激光基础 | 第34-48页 |
2.1 单粒子效应产生机理 | 第34-45页 |
2.1.1 辐射环境介绍 | 第34-35页 |
2.1.2 电荷沉积 | 第35-37页 |
2.1.3 电荷运动与收集 | 第37-38页 |
2.1.4 电路响应 | 第38-43页 |
2.1.5 数字电路加固 | 第43-45页 |
2.2 脉冲激光基础 | 第45-46页 |
2.3 CDR电路单粒子效应分析方法 | 第46-47页 |
2.4 本章小结 | 第47-48页 |
第三章 双环结构CDR架构研究和稳定性分析 | 第48-81页 |
3.1 时钟与数据恢复电路基础 | 第48-53页 |
3.1.1 非归零(NRZ)数字信号特性 | 第48-51页 |
3.1.2 时钟与数据恢复电路结构 | 第51-53页 |
3.2 基于双环结构的时钟与数据恢复电路 | 第53-56页 |
3.2.1 本文提出的结构 | 第53-54页 |
3.2.2 双环结构抖动研究 | 第54-56页 |
3.3 相位插值器设计与SET分析 | 第56-68页 |
3.3.1 相位插值理论分析 | 第56-59页 |
3.3.2 相位插值单元电路设计 | 第59-61页 |
3.3.3 相位插值单元电路SET分析 | 第61-65页 |
3.3.4 相位插值选择电路分析 | 第65-68页 |
3.4 BANG-BANG鉴相器 | 第68-75页 |
3.4.1 半速率II型鉴相器 | 第69-70页 |
3.4.2 改进型半速率II型鉴相器 | 第70-72页 |
3.4.3 鉴相器SET效应分析与加固 | 第72-75页 |
3.5 数字延迟环设计 | 第75-77页 |
3.6 仿真结果 | 第77-79页 |
3.7 本章总结 | 第79-81页 |
第四章 CDR中PLL单粒子效应分析与加固 | 第81-104页 |
4.1 锁相环系统模型 | 第81-86页 |
4.1.1 锁相环环路模型 | 第81-84页 |
4.1.2 自偏置结构PLL分析 | 第84-86页 |
4.2 电荷泵单粒子响应分析 | 第86-90页 |
4.3 鉴频鉴相器单粒子响应分析 | 第90-91页 |
4.4 分频器单粒子响应分析 | 第91-92页 |
4.5 压控振荡器单粒子响应分析 | 第92-98页 |
4.5.1 电路设计 | 第92-94页 |
4.5.2 单粒子效应分析 | 第94-98页 |
4.6 电荷泵单粒子瞬态效应加固 | 第98-101页 |
4.6.1 电路结构 | 第98-100页 |
4.6.2 仿真结果 | 第100-101页 |
4.7 偏置电路加固 | 第101-102页 |
4.8 分频电路加固 | 第102-103页 |
4.9 本章小结 | 第103-104页 |
第五章 流片测试与评估 | 第104-119页 |
5.1 相关研究总结 | 第104页 |
5.2 版图加固 | 第104-106页 |
5.3 整体电路仿真验证 | 第106-107页 |
5.4 验证策略 | 第107-109页 |
5.5 基本功能测试 | 第109-110页 |
5.6 激光测试 | 第110-117页 |
5.7 测试仿真总结 | 第117-119页 |
第六章 全文总结与展望 | 第119-121页 |
6.1 全文总结 | 第119-120页 |
6.2 后续工作展望 | 第120-121页 |
致谢 | 第121-122页 |
参考文献 | 第122-131页 |
攻读博士学位期间取得的成果 | 第131-132页 |