| 摘要 | 第5-7页 |
| abstract | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第12-33页 |
| 1.1 研究工作的背景与意义 | 第12-15页 |
| 1.2 国内外研究历史与现状 | 第15-29页 |
| 1.2.1 宽角扫描技术 | 第16-23页 |
| 1.2.2 宽带扫描技术 | 第23-29页 |
| 1.3 本文的主要贡献与创新 | 第29-31页 |
| 1.4 本论文的结构安排 | 第31-33页 |
| 第二章 相控阵天线相关理论 | 第33-45页 |
| 2.1 引言 | 第33页 |
| 2.2 基于MAXWELL方程的阵列分析 | 第33-35页 |
| 2.3 互耦效应分析 | 第35-39页 |
| 2.3.1 有源输入阻抗 | 第36-37页 |
| 2.3.2 有源单元方向图 | 第37-39页 |
| 2.4 FLOQUET模式分析方法 | 第39-44页 |
| 2.5 本章小结 | 第44-45页 |
| 第三章 基于重叠馈电网络的宽角扫描阵列 | 第45-57页 |
| 3.1 引言 | 第45页 |
| 3.2 重叠馈电网络的互耦补偿机制 | 第45-47页 |
| 3.3 重叠馈电网络设计 | 第47-51页 |
| 3.4 测试结果与分析 | 第51-56页 |
| 3.5 本章小结 | 第56-57页 |
| 第四章 基于连接耦合器的互耦补偿网络 | 第57-71页 |
| 4.1 引言 | 第57页 |
| 4.2 基于连接耦合器的第一类互耦补偿网络 | 第57-62页 |
| 4.3 基于连接耦合器的第二类互耦补偿网络 | 第62-65页 |
| 4.4 测试结果与分析 | 第65-67页 |
| 4.5 互耦补偿带宽分析 | 第67-70页 |
| 4.6 本章小结 | 第70-71页 |
| 第五章 基于连接耦合器互耦补偿网络的宽角宽带扫描阵列 | 第71-85页 |
| 5.1 引言 | 第71页 |
| 5.2 用于宽角扫描阵列的互耦补偿网络设计 | 第71-75页 |
| 5.3 宽角扫描阵列的测试结果与分析 | 第75-78页 |
| 5.4 基于第一类互耦补偿网络的宽带宽角扫描阵列 | 第78-84页 |
| 5.5 本章小结 | 第84-85页 |
| 第六章 基于连接背腔单元的宽带宽角扫描阵列 | 第85-114页 |
| 6.1 引言 | 第85-86页 |
| 6.2 天线设计和性能表现 | 第86-92页 |
| 6.3 无限大阵列性能表现 | 第92-97页 |
| 6.4 有限大阵列设计及测试结果分析 | 第97-101页 |
| 6.5 三角形栅格分布阵列设计 | 第101-107页 |
| 6.6 双极化单元设计 | 第107-113页 |
| 6.7 本章小结 | 第113-114页 |
| 第七章 全文总结与展望 | 第114-117页 |
| 7.1 全文总结 | 第114-115页 |
| 7.2 后续工作展望 | 第115-117页 |
| 致谢 | 第117-118页 |
| 参考文献 | 第118-129页 |
| 攻读博士学位期间取得的成果 | 第129-131页 |