摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-11页 |
·验证在芯片生产过程中的重要性 | 第7页 |
·验证步骤 | 第7-9页 |
·课题来源 | 第9页 |
·研究此课题的目的和意义 | 第9页 |
·本论文的任务及安排 | 第9-10页 |
·本章小结 | 第10-11页 |
第二章 基于VMM 的自动化验证平台 | 第11-25页 |
·自动化Testbench 的搭建 | 第11-14页 |
·Testbench 的概念 | 第11页 |
·自动化的验证平台搭建 | 第11-14页 |
·VMM 验证方法学和SystemVerilog 语言 | 第14-21页 |
·VMM 验证方法学概述 | 第14-19页 |
·SystemVerilog 语言介绍 | 第19-21页 |
·验证工具介绍 | 第21-23页 |
·本章小结 | 第23-25页 |
第三章 “缓存管理”逻辑的介绍 | 第25-37页 |
·“缓存管理”逻辑的基本原理和应用场景 | 第25-30页 |
·BMU 模块的应用场景 | 第27-28页 |
·BMU 模块的工作模式 | 第28页 |
·BMU 模块的逻辑架构 | 第28-30页 |
·测试点分解 | 第30-35页 |
·测试点的来源 | 第30-31页 |
·测试点的分类 | 第31-32页 |
·测试点分解 | 第32-33页 |
·测试用例 | 第33-35页 |
·本章小结 | 第35-37页 |
第四章 “缓存管理”逻辑验证平台的具体实现 | 第37-65页 |
·“缓存管理”逻辑验证平台架构设计 | 第37-38页 |
·MPI(Message Passing Interface) TEST | 第38-43页 |
·MPI 测试策略 | 第38-39页 |
·MPI 的验证环境具体实现 | 第39-43页 |
·配置通道激励产生器(config) | 第43-44页 |
·数据通道激励发生器(generater) | 第44-49页 |
·generater 设计思想 | 第44页 |
·generater 详细实现 | 第44-49页 |
·总线功能模型(bfm) | 第49-56页 |
·bfm 总体实现思路 | 第49-50页 |
·bfm 详细实现 | 第50-55页 |
·bfm 调试中的问题及解决方法 | 第55-56页 |
·接口(interface) | 第56-57页 |
·记分板(scoreboard) | 第57页 |
·环境(environment) | 第57-58页 |
·测试用例(testcase) | 第58-59页 |
·顶层(top) | 第59页 |
·代码覆盖率 | 第59-60页 |
·工作目录的层次 | 第60-62页 |
·验证中提出的关键技术 | 第62页 |
·结果分析 | 第62-63页 |
·本章小结 | 第63-65页 |
第五章 小结与展望 | 第65-67页 |
·小结 | 第65页 |
·展望 | 第65-67页 |
致谢 | 第67-69页 |
参考文献 | 第69-71页 |
研究成果 | 第71-72页 |
附录A 验证平台关键组件的实现代码 | 第72-83页 |
附录B BMU 模块接口信号列表 | 第83-85页 |