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对“缓存管理”逻辑进行EDA验证

摘要第1-4页
Abstract第4-7页
第一章 绪论第7-11页
   ·验证在芯片生产过程中的重要性第7页
   ·验证步骤第7-9页
   ·课题来源第9页
   ·研究此课题的目的和意义第9页
   ·本论文的任务及安排第9-10页
   ·本章小结第10-11页
第二章 基于VMM 的自动化验证平台第11-25页
   ·自动化Testbench 的搭建第11-14页
     ·Testbench 的概念第11页
     ·自动化的验证平台搭建第11-14页
   ·VMM 验证方法学和SystemVerilog 语言第14-21页
     ·VMM 验证方法学概述第14-19页
     ·SystemVerilog 语言介绍第19-21页
   ·验证工具介绍第21-23页
   ·本章小结第23-25页
第三章 “缓存管理”逻辑的介绍第25-37页
   ·“缓存管理”逻辑的基本原理和应用场景第25-30页
     ·BMU 模块的应用场景第27-28页
     ·BMU 模块的工作模式第28页
     ·BMU 模块的逻辑架构第28-30页
   ·测试点分解第30-35页
     ·测试点的来源第30-31页
     ·测试点的分类第31-32页
     ·测试点分解第32-33页
     ·测试用例第33-35页
   ·本章小结第35-37页
第四章 “缓存管理”逻辑验证平台的具体实现第37-65页
   ·“缓存管理”逻辑验证平台架构设计第37-38页
   ·MPI(Message Passing Interface) TEST第38-43页
     ·MPI 测试策略第38-39页
     ·MPI 的验证环境具体实现第39-43页
   ·配置通道激励产生器(config)第43-44页
   ·数据通道激励发生器(generater)第44-49页
     ·generater 设计思想第44页
     ·generater 详细实现第44-49页
   ·总线功能模型(bfm)第49-56页
     ·bfm 总体实现思路第49-50页
     ·bfm 详细实现第50-55页
     ·bfm 调试中的问题及解决方法第55-56页
   ·接口(interface)第56-57页
   ·记分板(scoreboard)第57页
   ·环境(environment)第57-58页
   ·测试用例(testcase)第58-59页
   ·顶层(top)第59页
   ·代码覆盖率第59-60页
   ·工作目录的层次第60-62页
   ·验证中提出的关键技术第62页
   ·结果分析第62-63页
   ·本章小结第63-65页
第五章 小结与展望第65-67页
   ·小结第65页
   ·展望第65-67页
致谢第67-69页
参考文献第69-71页
研究成果第71-72页
附录A 验证平台关键组件的实现代码第72-83页
附录B BMU 模块接口信号列表第83-85页

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