基于ARM的过程监控与故障诊断系统及应用
| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 目录 | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 化工过程故障诊断的研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 故障诊断技术的发展趋势 | 第10-11页 |
| 1.3 本文研究内容及论文结构 | 第11-14页 |
| 1.3.1 本文主要研究的内容 | 第11-12页 |
| 1.3.2 论文结构 | 第12-14页 |
| 第2章 嵌入式系统与ARM技术概述 | 第14-20页 |
| 2.1 嵌入式故障诊断系统结构 | 第14页 |
| 2.2 嵌入式故障诊断系统 | 第14-18页 |
| 2.2.1 嵌入式系统简介 | 第14-16页 |
| 2.2.2 ARM微处理器系列特点 | 第16-17页 |
| 2.2.3 嵌入式操作系统分类 | 第17-18页 |
| 2.3 嵌入式μC/OS-Ⅱ操作系统 | 第18-19页 |
| 2.4 本章小结 | 第19-20页 |
| 第3章 主元分析法在故障诊断中的应用 | 第20-37页 |
| 3.1 故障诊断的方法简介 | 第20-23页 |
| 3.1.1 基于解析模型的方法 | 第21-22页 |
| 3.1.2 基于知识的方法 | 第22页 |
| 3.1.3 基于信号处理的方法 | 第22-23页 |
| 3.2 主元分析方法的原理 | 第23-26页 |
| 3.3 基于PCA方法的故障检测 | 第26-28页 |
| 3.4 基于PCA方法的故障诊断 | 第28-30页 |
| 3.5 基于PCA的TE过程故障诊断研究 | 第30-36页 |
| 3.5.1 TE过程简介 | 第30-32页 |
| 3.5.2 TE过程变量 | 第32-34页 |
| 3.5.3 TE过程故障 | 第34-35页 |
| 3.5.4 TE数据集 | 第35-36页 |
| 3.6 本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 系统硬件电路和软件平台的设计 | 第37-53页 |
| 4.1 系统的硬件平台构建 | 第37-49页 |
| 4.1.1 数据采集模块 | 第37-40页 |
| 4.1.2 Mini2440开发板简介 | 第40-42页 |
| 4.1.3 S3C2440A处理器 | 第42页 |
| 4.1.4 时钟和电源部分 | 第42-44页 |
| 4.1.5 数据存储管理 | 第44-46页 |
| 4.1.6 串行接口设计 | 第46-47页 |
| 4.1.7 液晶显示设计 | 第47-48页 |
| 4.1.8 JTAG接口电路 | 第48-49页 |
| 4.2 系统软件平台构建 | 第49-52页 |
| 4.2.1 选用μC/OS-Ⅱ的依据 | 第49-50页 |
| 4.2.2 μC/OS-Ⅱ开发工具 | 第50-51页 |
| 4.2.3 系统软件设计的主要内容 | 第51-52页 |
| 4.3 本章小结 | 第52-53页 |
| 第5章 基于TE过程的故障诊断系统的软件开发 | 第53-77页 |
| 5.1 引言 | 第53页 |
| 5.2 μC/OS-Ⅱ在S3C2440上的移植 | 第53-57页 |
| 5.2.1 μC/OS-Ⅱ的硬件和软件体系结构 | 第53-55页 |
| 5.2.2 μC/OS-Ⅱ移植工作 | 第55-57页 |
| 5.3 基于μC/OS-Ⅱ的μCGUI整合移植 | 第57-62页 |
| 5.3.1 μCGUI文件体系 | 第58页 |
| 5.3.2 μCGUI的移植 | 第58-61页 |
| 5.3.3 TFT底层驱动和触摸驱动 | 第61-62页 |
| 5.4 SD卡文件系统设计与实现 | 第62-66页 |
| 5.4.1 底层驱动设计 | 第63-64页 |
| 5.4.2 FatFs文件系统设计 | 第64-66页 |
| 5.5 系统软件程序编写部分 | 第66-72页 |
| 5.5.1 Main()函数 | 第67-68页 |
| 5.5.2 ContollerMain()函数 | 第68-72页 |
| 5.6 测试系统功能 | 第72-75页 |
| 5.7 本章小结 | 第75-77页 |
| 第六章 总结与展望 | 第77-79页 |
| 6.1 本文的工作内容 | 第77-78页 |
| 6.2 展望 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-82页 |
