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基于AdaBoost的SRAM单元失效概率估计算法研究

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 引言第8-19页
    1.1 研究动机第8-10页
    1.2 研究背景和研究现状第10-16页
    1.3 本文的研究内容和主要贡献第16-18页
    1.4 论文组织结构第18-19页
第2章 SRAM单元失效概率估计算法回顾第19-34页
    2.1 SRAM核心单元工作机理第19-20页
    2.2 6-T SRAM单元性能指标第20-23页
    2.3 极值理论第23-24页
    2.4 SRAM核心单元失效率估计算法第24-32页
    2.5 品质因数第32-33页
    2.6 本章小结第33-34页
第3章 基于AdaBoost的改进型重要性算法研究第34-51页
    3.1 AdaBoost分类器第35-40页
    3.2 最小交叉熵方法第40-45页
    3.3 算法整体框架第45-50页
    3.4 本章小结第50-51页
第4章 实验数据及结果分析第51-63页
    4.1 实验设定第51-52页
    4.2 SRAM存储单元的静态噪声容限第52-53页
    4.3 SRAM单元读失效概率分析第53-56页
    4.4 SRAM单元写失效概率分析第56-59页
    4.5 算法的性能分析第59-62页
    4.6 本章小结第62-63页
第5章 总结与展望第63-66页
    5.1 全文总结第63-64页
    5.2 创新点总结第64-65页
    5.3 未来工作展望第65-66页
参考文献第66-69页
硕士期间已发表文章列表第69-70页
    已发表文章列表(第一作者)第69-70页
致谢第70-71页

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