| 摘要 | 第1-11页 |
| ABSTRACT | 第11-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-18页 |
| ·研究背景 | 第12-15页 |
| ·集成电路发展状况及面临的挑战 | 第12-13页 |
| ·研究背景 | 第13-15页 |
| ·研究现状 | 第15-16页 |
| ·论文主要内容 | 第16-17页 |
| ·论文组织结构 | 第17-18页 |
| 第二章 功能验证与时序建模的研究 | 第18-31页 |
| ·功能验证方法概述 | 第18-20页 |
| ·功能验证概述 | 第18-19页 |
| ·功能验证方法 | 第19-20页 |
| ·时序建模方法概述 | 第20-30页 |
| ·时序分析方法 | 第20-23页 |
| ·时序模型的分类 | 第23-26页 |
| ·时序模型的应用 | 第26-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 IP核的自动化功能验证 | 第31-44页 |
| ·功能验证核心技术 | 第31-33页 |
| ·对比窗 | 第32-33页 |
| ·起始时间与对比周期 | 第33页 |
| ·功能验证工具详细设计 | 第33-39页 |
| ·整体运行流程 | 第34页 |
| ·输入文件检查 | 第34-35页 |
| ·配置文件的生成 | 第35-36页 |
| ·黄金模型输出波形文本vcdtxt的生成 | 第36-37页 |
| ·模拟输出波形文本fsdbtxt的生成 | 第37-39页 |
| ·输出比对 | 第39页 |
| ·验证工具的功能与性能分析 | 第39-43页 |
| ·功能分析 | 第39-41页 |
| ·性能分析 | 第41-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 IP核的自动化LIB提取 | 第44-56页 |
| ·LIB提取核心技术 | 第44-49页 |
| ·适用多种模拟工具 | 第45-47页 |
| ·可并行化运行 | 第47-48页 |
| ·中断后数据保存 | 第48页 |
| ·约束弧与延时弧的匹配检测 | 第48-49页 |
| ·LIB提取工具详细设计 | 第49-54页 |
| ·采样点选取 | 第49页 |
| ·功耗信息提取 | 第49-50页 |
| ·时序信息提取 | 第50-52页 |
| ·LIB结果的反向验证 | 第52-54页 |
| ·自动化 LIB 提取准确性分析 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 存储器与寄存器文件的自动化功能验证与LIB提取 | 第56-68页 |
| ·存储器的功能验证与LIB提取 | 第56-61页 |
| ·存储器电路设计概述 | 第56-57页 |
| ·存储器测试激励的撰写 | 第57页 |
| ·存储器的功能验证 | 第57-59页 |
| ·存储器LIB提取 | 第59-61页 |
| ·存储器LIB结果验证 | 第61页 |
| ·寄存器文件的功能验证与LIB提取 | 第61-67页 |
| ·寄存器文件电路设计概述 | 第61-63页 |
| ·寄存器文件测试激励的撰写 | 第63-64页 |
| ·寄存器文件的功能验证 | 第64-65页 |
| ·寄存器文件LIB提取 | 第65-66页 |
| ·寄存器文件LIB结果验证 | 第66-67页 |
| ·自动化功能验证与LIB提取在全芯片中的实际效果 | 第67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第六章 全文总结和未来工作展望 | 第68-69页 |
| ·全文总结 | 第68页 |
| ·未来工作展望 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-72页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第72页 |