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基于子结构方法的微电子集成电路封装互连焊球可靠性的建模与仿真

摘要第1-7页
ABSTRACT第7-11页
第1章 绪论第11-18页
   ·前言第11-12页
   ·焊点可靠性问题第12页
   ·焊点可靠性研究概况第12-13页
   ·子结构方法第13-14页
   ·子结构方法应用概况第14-16页
   ·本课题研究意义和内容第16-18页
第2章 静态子结构法求解步骤与基本原理第18-22页
   ·前言第18页
   ·静态子结构法基本原理第18-20页
   ·热循环静态子结构分析方法第20-22页
第3章 叠层封装结构热循环分析的静态子结构方法第22-35页
   ·前言第22页
   ·分析模型第22-27页
     ·模型结构尺寸第22-24页
     ·材料属性第24-25页
     ·热循环加载条件第25-26页
     ·单元选择与网格考虑第26-27页
   ·热循环的子结构方法第27-31页
     ·确定关键焊球位置第27页
     ·计算等效弹性模量第27-29页
     ·子结构方法计算第29-31页
   ·计算结果与讨论第31-33页
   ·小结第33-35页
第4章 动态子结构方法基本原理第35-41页
   ·前言第35页
   ·固定界面模态综合法基本原理第35-40页
     ·子结构物理坐标的模态坐标转换第35-36页
     ·子结构在模态坐标下的运动方程第36-38页
     ·模态坐标下的非耦合独立的运动方程第38-39页
     ·组装广义坐标下的系统方程第39-40页
   ·芯片跌落焊点可靠性分析的动态子结构法第40-41页
第5章 芯片跌落焊点可靠性分析的动态子结构方法第41-54页
   ·前言第41页
   ·跌落试验第41-43页
   ·跌落等效隐式分析理论第43-46页
   ·跌落模拟分析第46-48页
     ·分析模型第46-48页
     ·材料属性第48页
     ·加载方式第48页
   ·三种等效隐式方法分析比较第48-51页
   ·三种等效方法的子结构方法比较第51-52页
   ·小结第52-54页
第6章 跌落芯片及焊点尺寸分析研究第54-63页
   ·前言第54页
   ·分析模型第54-55页
   ·不同设计变量对焊点应力的影响第55-62页
     ·应力随焊球大小的变化第55-57页
     ·应力随焊球直径的变化第57-58页
     ·应力随焊球间距的变化第58-59页
     ·应力随芯片厚度的变化第59-62页
   ·小结第62-63页
第7章 结论与展望第63-65页
   ·结论第63-64页
   ·展望第64-65页
参考文献第65-70页
附录第70-75页
致谢第75-76页
攻读学位期间参加的科研项目和成果第76页

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