| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 差分进化算法研究现状 | 第10-12页 |
| 1.3 测试序列优化技术的研究现状 | 第12-13页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第二章 测序序列优化问题模型的建立 | 第15-20页 |
| 2.1 多信号模型 | 第15-16页 |
| 2.1.1 多信号模型概念 | 第15-16页 |
| 2.1.2 测试集完备性描述 | 第16页 |
| 2.2 测试序列优化问题的数学描述 | 第16-19页 |
| 2.2.1 最优测试序列五元参数模型 | 第16-18页 |
| 2.2.2 超外差接收机多信号模型 | 第18-19页 |
| 2.3 本章小结 | 第19-20页 |
| 第三章 差分进化算法的参数自适应及改进研究 | 第20-34页 |
| 3.1 差分进化算法的简介 | 第20-24页 |
| 3.1.1 经典差分进化算法思想 | 第20页 |
| 3.1.2 经典差分进化算法的基本操作 | 第20-23页 |
| 3.1.3 差分进化算法的流程 | 第23-24页 |
| 3.2 差分进化算法参数自适应改进 | 第24-29页 |
| 3.2.1 DE的受控参数选择 | 第24-25页 |
| 3.2.2 惯性双模式差分进化算法(IDDE) | 第25-27页 |
| 3.2.3 实验分析 | 第27-29页 |
| 3.3 差分算法的分形改进 | 第29-33页 |
| 3.3.1 分形思想简介 | 第29-30页 |
| 3.3.2 分形差分进化算法FDE简介 | 第30-32页 |
| 3.3.3 数值分析 | 第32-33页 |
| 3.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 FDE算法在测试序列优化技术问题中的应用 | 第34-42页 |
| 4.1 故障检测率和故障隔离率简介 | 第34-35页 |
| 4.2 差分进化算法与测试序列优化问题的结合 | 第35-36页 |
| 4.2.1 DE算法中个体向量的重定义 | 第35页 |
| 4.2.2 OPT问题中DE算法适应度函数重定义 | 第35-36页 |
| 4.3 实例分析 | 第36-40页 |
| 4.4 FDE算法性能优势 | 第40-41页 |
| 4.4.1 FDE解决OTP问题的复杂度分析 | 第40页 |
| 4.4.2 FDE算法与几种改进的差分算法比较 | 第40-41页 |
| 4.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 第五章 DE-AO*算法及其在测试序列优化问题中的仿真研究 | 第42-53页 |
| 5.1 AO*算法的测试序列设计 | 第42-48页 |
| 5.1.1 与或树的代价 | 第42-44页 |
| 5.1.2 启发式评估函数 | 第44-45页 |
| 5.1.3 AO*算法的流程 | 第45-46页 |
| 5.1.4 实例分析 | 第46-48页 |
| 5.2 DE-AO*算法的测试序列优化设计 | 第48-50页 |
| 5.2.1 DE优选AO*的扩展节点 | 第48-49页 |
| 5.2.2 DE-AO*算法流程 | 第49-50页 |
| 5.3 实例验证 | 第50-52页 |
| 5.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 第六章 总结与展望 | 第53-55页 |
| 6.1 全文总结 | 第53页 |
| 6.2 研究展望 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 攻读学位期间的研究成果 | 第59-60页 |