| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-44页 |
| 1 硒的分析方法综述 | 第10-18页 |
| 1．1 硒的测定方法 | 第11-17页 |
| 1．2 各种方法的比较 | 第17-18页 |
| 2 原子荧光光谱法 | 第18-29页 |
| 2．1 原子荧光光谱法的原理 | 第18-20页 |
| 2．2 原子荧光光谱仪 | 第20-27页 |
| 2．3原子荧光光谱法的发展概况 | 第27-29页 |
| 3 氢化物发生法 | 第29-37页 |
| 3．1 氢化物的发生方法和实际操作方法 | 第29-31页 |
| 3．2 氢化物发生法的干扰及其消除 | 第31-36页 |
| 3．3 氢化物发生法的原子化器以及原子化机理 | 第36-37页 |
| 4 氢化物发生-原子荧光法 | 第37-42页 |
| 4．1 氢化物发生-原子荧光法的发展概况 | 第37-38页 |
| 4．2 氢化物发生-原子荧光法的应用 | 第38-41页 |
| 4．3 氢化物发生-原子荧光光谱法在硒的分析中的应用 | 第41-42页 |
| 5 本研究的意义 | 第42-44页 |
| 第二章 断续流动-HG-AFS法测定富硒食品中的微量硒 | 第44-57页 |
| 1 引言 | 第44-45页 |
| 2 实验部分 | 第45-47页 |
| 2．1 仪器、试剂和样品 | 第45-46页 |
| 2．2 实验方法 | 第46-47页 |
| 3 结果与讨论 | 第47-56页 |
| 3．1 实验原理 | 第47页 |
| 3．2 读数时间的确定 | 第47-48页 |
| 3．3 样品消化体系的选择 | 第48页 |
| 3．4 样品预处理方法的选择 | 第48-49页 |
| 3．5 介质盐酸浓度的选择 | 第49-50页 |
| 3．6 载流盐酸浓度的选择 | 第50页 |
| 3．7 负高压的选择 | 第50-51页 |
| 3．8 灯电流的选择 | 第51页 |
| 3．9 原子化器温度的选择 | 第51页 |
| 3．10 载气流量和屏蔽气流量的选择 | 第51-52页 |
| 3．11 硼氢化钾浓度的选择 | 第52页 |
| 3．12 硝酸对测定的影响 | 第52-53页 |
| 3．13 高氯酸对测定的影响 | 第53-54页 |
| 3．14 干扰实验 | 第54页 |
| 3．15 不同处理方式的工作曲线 | 第54页 |
| 3．16 工作曲线、检测限和精密度 | 第54-55页 |
| 3．17 样品测定结果及回收实验 | 第55-56页 |
| 4 结论 | 第56-57页 |
| 第三章 表面活性剂存在下HG-AFS法测定硒的研究 | 第57-76页 |
| 1 引言 | 第57-58页 |
| 2 实验仪器、试剂和溶液 | 第58-60页 |
| 2．1 仪器 | 第58页 |
| 2．2 试剂和样品 | 第58-60页 |
| 2．3 溶液的配制 | 第60页 |
| 3 最佳仪器和氢化物发生条件的选择 | 第60-63页 |
| 4 表面活性剂对HG-AFS测定硒的影响 | 第63-71页 |
| 4．1 表面活性剂对信号强度的影响 | 第63-66页 |
| 4．2 表面活性剂对精密度和检测限的影响 | 第66-68页 |
| 4．3 表面活性剂的存在对共存离子允许限量的影响 | 第68-70页 |
| 4．4 表面活性剂对Cu2+存在下的信号峰的影响 | 第70-71页 |
| 5 表面活性剂存在下测定康必硒中SE（IV）、SE（Ⅵ）和有机硒 | 第71-74页 |
| 5．1 样品中硒的提取 | 第71页 |
| 5．2 还原实验 | 第71-72页 |
| 5．3 样品的测定 | 第72-74页 |
| 6 结论 | 第74-76页 |
| 第四章 展望 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-89页 |
| 致谢 | 第89页 |
