厚膜LED粘片机晶圆拾取路径方法研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| 1. 引言 | 第10-17页 |
| ·论文研究的背景 | 第10-14页 |
| ·论文研究的意义 | 第14-15页 |
| ·论文研究主要内容 | 第15-17页 |
| 2. 系统概述 | 第17-31页 |
| ·系统基本构成 | 第17-19页 |
| ·主控制系统 | 第19-21页 |
| ·视觉定位系统 | 第21-25页 |
| ·视觉定位系统概述 | 第21-23页 |
| ·图像处理原理 | 第23-25页 |
| ·基于FPGA的脉冲检测系统 | 第25-31页 |
| ·系统工作原理 | 第25-26页 |
| ·硬件实现 | 第26-27页 |
| ·软件设计 | 第27-31页 |
| 3. 系统拾取精度的分析 | 第31-35页 |
| ·影响系统拾取精度的因素 | 第31-33页 |
| ·系统拾取误差的校正 | 第33-35页 |
| 4. 晶圆拾取问题分析 | 第35-44页 |
| ·晶圆上芯粒的数量 | 第35-36页 |
| ·晶圆的情况 | 第36-44页 |
| ·常见晶圆的形状 | 第36-38页 |
| ·常见晶圆拾取时的问题 | 第38-41页 |
| ·有空洞的晶圆 | 第38页 |
| ·缺角的晶圆 | 第38-39页 |
| ·晶圆上坏芯粒的处理 | 第39-40页 |
| ·不同的拾取起始位置 | 第40-41页 |
| ·厚膜LED粘片机晶圆的特殊问题 | 第41-44页 |
| ·晶圆形状的不同 | 第41-42页 |
| ·芯粒浮起现象 | 第42-44页 |
| 5. 拾取路径算法研究 | 第44-70页 |
| ·路径算法测试平台的建立 | 第44-48页 |
| ·路径算法测试平台的意义 | 第44-45页 |
| ·路径算法测试平台的建立 | 第45-47页 |
| ·构建晶圆模型 | 第45-46页 |
| ·模拟路径算法 | 第46页 |
| ·算法测试效果评价 | 第46-47页 |
| ·路径算法测试平台的应用 | 第47-48页 |
| ·几种拾取路径算法 | 第48-57页 |
| ·十字直角算法 | 第48-52页 |
| ·十字直角算法思想 | 第48-49页 |
| ·十字直角算法实现 | 第49-51页 |
| ·十字直角算法优缺点 | 第51-52页 |
| ·斜上优先算法 | 第52-56页 |
| ·斜上优先算法思想 | 第52-53页 |
| ·斜上优先算法实现 | 第53-55页 |
| ·斜上优先算法优缺点 | 第55-56页 |
| ·动态视野算法 | 第56-57页 |
| ·有向算法 | 第57页 |
| ·记录轨迹算法 | 第57页 |
| ·改进的拾取路径算法 | 第57-70页 |
| ·标准改进算法 | 第58-65页 |
| ·标准改进算法的思想 | 第58-60页 |
| ·标准改进算法的实现 | 第60-63页 |
| ·标准改进算法的优缺点 | 第63-65页 |
| ·特殊改进算法 | 第65-70页 |
| ·特殊改进算法的思想 | 第65-66页 |
| ·特殊改进算法的实现 | 第66-68页 |
| ·特殊改进算法的优缺点 | 第68-70页 |
| 6. 路径效果评价 | 第70-75页 |
| 7. 结束语 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
