电阻抗断层成像算法研究及系统软件设计
| 中文摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| ·电阻抗层析成像技术简介 | 第7-8页 |
| ·EIT 技术发展概况 | 第8-13页 |
| ·本课题完成的工作及创新点 | 第13-14页 |
| ·本论文的组织 | 第14-15页 |
| 第二章 EIT 正、反问题分析 | 第15-25页 |
| ·EIT 敏感场的数学描述 | 第15-16页 |
| ·EIT 正问题有限元解 | 第16-21页 |
| ·等价变分问题 | 第17页 |
| ·几何剖分、分片插值和总体集成 | 第17-21页 |
| ·EIT 反问题分析 | 第21-25页 |
| ·研究反问题的意义与难点 | 第21-22页 |
| ·反问题病态性分析 | 第22-25页 |
| 第三章 图像重建算法 | 第25-44页 |
| ·等位线反投影算法 | 第25-26页 |
| ·灵敏度系数法 | 第26-27页 |
| ·滤波反投影算法 | 第27-28页 |
| ·Landweber 迭代法及预迭代方法 | 第28-31页 |
| ·算法的理论基础 | 第28-29页 |
| ·Landweber 图象重建算法 | 第29-30页 |
| ·基于Landweber 算法的预迭代算法 | 第30-31页 |
| ·共轭梯度法 | 第31-34页 |
| ·算法的理论基础 | 第32-33页 |
| ·共轭梯度法的实现 | 第33-34页 |
| ·牛顿－拉夫逊算法 | 第34-36页 |
| ·算法的理论基础 | 第34-35页 |
| ·牛顿－拉夫逊算法的实现 | 第35-36页 |
| ·正则化算法 | 第36-42页 |
| ·Tikhonov 正则化算法 | 第36-38页 |
| ·总变差正则化算法 | 第38-42页 |
| ·常用算法仿真结果比较 | 第42-44页 |
| 第四章 EIT 系统软件设计 | 第44-81页 |
| ·EIT 软件系统设计概述 | 第44-47页 |
| ·EIT_SystemII 软件系统界面功能设置 | 第47-51页 |
| ·场域模型建立及有限元剖分模块 | 第51-54页 |
| ·串口通讯功能模块 | 第54-61页 |
| ·通讯功能模块简介 | 第54-55页 |
| ·串口通讯功能模块软件设计 | 第55-61页 |
| ·算法实现与应用模块 | 第61-68页 |
| ·矩阵运算类的设计和应用 | 第61-63页 |
| ·灵敏度系数计算 | 第63-66页 |
| ·相关矩阵设计及算法应用 | 第66-68页 |
| ·图像显示模块 | 第68-78页 |
| ·图形设备接口 | 第68-71页 |
| ·灰度值等值线绘制 | 第71-73页 |
| ·彩色或黑白等值云图绘制 | 第73-77页 |
| ·图像显示调整 | 第77-78页 |
| ·相关数据及参数可视化 | 第78页 |
| ·数据存储和回放模块 | 第78-79页 |
| ·在其它成像系统中的应用 | 第79-81页 |
| 第五章 EIT 系统实验 | 第81-88页 |
| ·EIT 系统实验设计 | 第81-82页 |
| ·实验成像结果 | 第82-85页 |
| ·实验结果分析 | 第85-88页 |
| 第六章 总结与展望 | 第88-90页 |
| 参考文献 | 第90-97页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第97-98页 |
| 致谢 | 第98页 |
