摘要 | 第3-4页 |
ABSTRACT | 第4-5页 |
1 绪论 | 第9-14页 |
1.1 研究背景及意义 | 第9-10页 |
1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第10-13页 |
1.2.1 LED驱动电源研究现状与发展趋势 | 第10-11页 |
1.2.2 功率因数校正(PFC)技术研究现状与发展趋势 | 第11-13页 |
1.3 论文主要研究内容 | 第13-14页 |
2 高功率因数LED恒流驱动电源及其控制芯片组成及原理 | 第14-26页 |
2.1 功率因数校正技术 | 第14-21页 |
2.1.1 功率因数定义 | 第14-15页 |
2.1.2 功率因数校正电路的分类 | 第15-16页 |
2.1.3 有源功率因数校正拓扑及原理 | 第16-18页 |
2.1.4 有源功率因数校正技术控制方法 | 第18-21页 |
2.2 驱动电源控制芯片系统反馈方式 | 第21-23页 |
2.2.1 副边反馈技术 | 第21-22页 |
2.2.2 原边反馈(PSR)技术 | 第22-23页 |
2.3 LED驱动电源恒流原理 | 第23-25页 |
2.3.1 传统恒流原理 | 第23-24页 |
2.3.2 控制关断延迟时间恒流原理 | 第24-25页 |
2.3.3 CRM下变导通时间恒流原理 | 第25页 |
2.4 本章小结 | 第25-26页 |
3 控制芯片关键模块电路设计 | 第26-50页 |
3.1 高功率因数恒流控制芯片组成及原理 | 第26-28页 |
3.1.1 芯片组成及原理 | 第26-28页 |
3.1.2 芯片性能指标 | 第28页 |
3.2 带隙基准与内部电源产生电路设计 | 第28-34页 |
3.2.1 带隙基准电路 | 第28-33页 |
3.2.2 内部电源产生电路 | 第33-34页 |
3.3 恒流控制电路设计 | 第34-38页 |
3.3.1 恒流模块逻辑控制电路 | 第36-37页 |
3.3.2 采样保持电路 | 第37-38页 |
3.4 恒定导通时间控制PFC电路设计 | 第38页 |
3.5 保护电路设计 | 第38-45页 |
3.5.1 欠压锁定(UVLO)电路 | 第38-40页 |
3.5.2 峰值电流限定电路 | 第40-41页 |
3.5.3 输出过压保护电路 | 第41-44页 |
3.5.4 VCC过压保护电路 | 第44-45页 |
3.6 前沿消隐(LEB)电路设计 | 第45-46页 |
3.7 零电流检测(ZCD)电路设计 | 第46-47页 |
3.8 逻辑驱动模块电路设计 | 第47-49页 |
3.9 本章小结 | 第49-50页 |
4 芯片系统电路的仿真分析 | 第50-59页 |
4.1 反激式高功率因数LED恒流驱动电源 | 第50-54页 |
4.2 芯片系统电路仿真分析 | 第54-58页 |
4.2.1 芯片启动过程仿真及分析 | 第56页 |
4.2.2 芯片内部基准电压仿真及分析 | 第56-57页 |
4.2.3 芯片工作过程仿真及分析 | 第57-58页 |
4.3 本章小结 | 第58-59页 |
5 芯片整体版图设计及后仿验证 | 第59-68页 |
5.1 版图设计基本流程 | 第59-60页 |
5.2 关键器件的版图设计及匹配 | 第60-62页 |
5.2.1 MOS管的版图设计 | 第60-61页 |
5.2.2 三极管的版图设计 | 第61-62页 |
5.2.3 电阻的版图设计 | 第62页 |
5.3 关键模块的版图设计 | 第62-65页 |
5.3.1 带隙基准电路版图 | 第62-63页 |
5.3.2 恒流及恒定导通时间控制PFC电路版图 | 第63页 |
5.3.3 内部电源产生电路版图 | 第63-64页 |
5.3.4 整体电路版图 | 第64-65页 |
5.4 芯片后仿验证 | 第65-67页 |
5.4.1 功率因数后仿结果 | 第65-66页 |
5.4.2 恒流特性后仿结果 | 第66-67页 |
5.5 本章小结 | 第67-68页 |
6 结论与展望 | 第68-70页 |
6.1 结论 | 第68-69页 |
6.2 展望 | 第69-70页 |
致谢 | 第70-71页 |
参考文献 | 第71-75页 |
附录 | 第75页 |
攻读学位期间发表的论文 | 第75页 |
攻读学位期间获得的专利 | 第75页 |
攻读学位期间获得的荣誉 | 第75页 |
攻读学位期间参与的项目 | 第75页 |