基于BCD工艺的AC/DC电源管理芯片设计
| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-8页 |
| 1 绪论 | 第8-15页 |
| ·选题的背景 | 第8-12页 |
| ·电源控制芯片的发展动力 | 第8-9页 |
| ·电源控制芯片的发展现状 | 第9-11页 |
| ·电源控制芯片的发展趋势 | 第11-12页 |
| ·课题研究意义 | 第12页 |
| ·本文主要内容 | 第12-15页 |
| 2 BCD 工艺技术简介 | 第15-21页 |
| ·引言 | 第15页 |
| ·BCD 工艺的分类 | 第15页 |
| ·BIPOLAR 工艺简介 | 第15-16页 |
| ·CMOS 工艺简介 | 第16-17页 |
| ·DMOS 工艺 | 第17-19页 |
| ·LDMOS | 第17-19页 |
| ·VDMOS | 第19页 |
| ·BCD 工艺的发展方向 | 第19-20页 |
| ·小结 | 第20-21页 |
| 3 反激式开关变换器 | 第21-28页 |
| ·基本原理 | 第21-22页 |
| ·反激式变换器 | 第21-22页 |
| ·反馈方式 | 第22页 |
| ·工作模式 | 第22-25页 |
| ·连续导电模式(CCM) | 第23页 |
| ·边界导电模式(BCM) | 第23-24页 |
| ·不连续导电模式(DCM) | 第24页 |
| ·典型应用 | 第24-25页 |
| ·芯片的工作模式 | 第25-27页 |
| ·原边峰值电流恒定 | 第25-26页 |
| ·恒压(CV)模式 | 第26-27页 |
| ·恒流(CC)模式 | 第27页 |
| ·小结 | 第27-28页 |
| 4 电源管理芯片(PMIC)电路设计 | 第28-45页 |
| ·基准产生电路设计 | 第28-37页 |
| ·REGULATOR 电路 | 第28-33页 |
| ·带隙基准电路 | 第33-37页 |
| ·振荡电路模块设计 | 第37-39页 |
| ·基本原理 | 第37-38页 |
| ·压控电流源电路 | 第38页 |
| ·模块仿真波形 | 第38-39页 |
| ·欠压锁定(UVLO)保护电路和启动电路 | 第39-40页 |
| ·传统UVLO 电路原理 | 第39页 |
| ·欠压锁定(UVLO)电路 | 第39-40页 |
| ·模块仿真波形 | 第40页 |
| ·前沿消隐(LEB)与过流保护(OCP)电路设计 | 第40-42页 |
| ·设计方案 | 第40-41页 |
| ·前沿消隐电路和过流保护电路 | 第41-42页 |
| ·过压保护(OVP)电路设计 | 第42页 |
| ·驱动电路设计 | 第42页 |
| ·整体电路设计 | 第42-44页 |
| ·小结 | 第44-45页 |
| 5 芯片版图设计 | 第45-50页 |
| ·版图设计的方式 | 第45页 |
| ·半定制版图设计 | 第45页 |
| ·全定制版图设计 | 第45页 |
| ·版图设计的考虑因素 | 第45-47页 |
| ·版图设计的准备工作 | 第45-46页 |
| ·遵循工艺的设计规则 | 第46页 |
| ·大功率器件的结构设计 | 第46页 |
| ·对称性设计 | 第46页 |
| ·导线与衬底或阱相连 | 第46页 |
| ·版图布局 | 第46-47页 |
| ·版图验证和后模拟 | 第47-48页 |
| ·版图验证 | 第47-48页 |
| ·后模拟 | 第48页 |
| ·芯片版图 | 第48-49页 |
| ·小结 | 第49-50页 |
| 6 芯片测试 | 第50-53页 |
| ·静态性能测试 | 第50-51页 |
| ·动态性能测试 | 第51-53页 |
| 7 结论 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 附录 | 第58页 |
