介电谱测试系统的多功能开发与性能优化研究
摘要 | 第1-3页 |
ABSTRACT | 第3-7页 |
1 绪论 | 第7-13页 |
·介电谱和介电谱技术 | 第7页 |
·介电谱分类及发展状况 | 第7-11页 |
·频域介电谱 | 第8-10页 |
·时域介电谱 | 第10页 |
·色散傅里叶变换波谱 | 第10-11页 |
·介电谱技术对电子材料研发的重要性 | 第11-12页 |
·本论文研究内容 | 第12-13页 |
2 介电谱测试系统的优化研究 | 第13-35页 |
·已试制的介电谱测试系统存在的问题 | 第14-18页 |
·硬件中存在的问题及其结果反映 | 第14-17页 |
·软件中存在的问题及其结果反映 | 第17-18页 |
·软硬件联接存在的问题及其结果反应 | 第18页 |
·测试系统的优化方案 | 第18-29页 |
·硬件的改进 | 第18-21页 |
·软件的改进 | 第21-25页 |
·软硬件联接的改进 | 第25-29页 |
·介电谱测试系统的功能特征 | 第29-31页 |
·测试系统的实测性能与结果分析 | 第31-33页 |
·下一步设计展望 | 第33-35页 |
3 气氛环境介电谱测试功能的开发 | 第35-46页 |
·固体缺陷理论与机制 | 第35-36页 |
·材料内部点缺陷 | 第35页 |
·烧成气氛对电介质陶瓷材料缺陷的影响 | 第35-36页 |
·气氛环境介电谱测试的重要性和必要性 | 第36页 |
·设计思路与实施方案 | 第36-41页 |
·设计思路 | 第37-38页 |
·实施方案 | 第38-41页 |
·测试系统的实测性能与结果分析 | 第41-44页 |
·钛酸铋钠基无铅压电陶瓷的气氛测试 | 第41-42页 |
·钛酸铜钙基巨介电材料的气氛测试 | 第42-44页 |
·进一步研究与展望 | 第44-45页 |
·小结 | 第45-46页 |
4 变温频谱测试功能的开发 | 第46-66页 |
·频谱理论 | 第46-48页 |
·介电谱技术 | 第46-47页 |
·重要性与必要性 | 第47-48页 |
·设计思路与实施方案 | 第48-60页 |
·设计思路 | 第48-50页 |
·实施方案 | 第50-60页 |
·测试系统的实测性能与结果分析 | 第60-64页 |
·进一步研究与展望 | 第64页 |
·结论 | 第64-66页 |
5 结论 | 第66-67页 |
致谢 | 第67-68页 |
参考文献 | 第68-71页 |
附录 | 第71页 |