| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-14页 |
| ·集成电路的可靠性 | 第7-9页 |
| ·集成电路高温老化的理论依据 | 第9页 |
| ·超大规模集成电路高温动态老化测试面临的挑战 | 第9-10页 |
| ·本文的研究工作和主要研究成果 | 第10-12页 |
| ·小结 | 第12-14页 |
| 第二章 VLSI高温动态老化测试系统方案 | 第14-20页 |
| ·VLSI高温动态老化测试系统的功能需求分析 | 第14页 |
| ·VLSI高温动态老化测试系统架构 | 第14-15页 |
| ·上位机控制软件 | 第15-16页 |
| ·系统通信网络 | 第16页 |
| ·老化电源系统 | 第16-17页 |
| ·嵌入式控制系统 | 第17-18页 |
| ·图形发生与检测系统 | 第18-19页 |
| ·小结 | 第19-20页 |
| 第三章 嵌入式系统核心平台 | 第20-28页 |
| ·嵌入式核心平台的硬件系统 | 第20-25页 |
| ·S3C4510B嵌入式处理器 | 第20-22页 |
| ·Flash和 SDRAM器件 | 第22-23页 |
| ·以太网接口电路 | 第23页 |
| ·电源、晶振和复位电路 | 第23-25页 |
| ·嵌入式核心平台的软件系统 | 第25-27页 |
| ·Boot loader引导程序 | 第25页 |
| ·uClinux操作系统 | 第25-26页 |
| ·Root文件系统 | 第26页 |
| ·开发环境的构建 | 第26-27页 |
| ·嵌入式核心平台在 VLSI高温动态老化测试系统中的应用 | 第27页 |
| ·小结 | 第27-28页 |
| 第四章 图形发生与检测系统的设计方案 | 第28-40页 |
| ·软硬件协同设计 | 第28页 |
| ·系统的功能需求分析 | 第28-30页 |
| ·解决的几个关键问题 | 第30-39页 |
| ·多片 Xilinx FPGA的动态配置 | 第30-33页 |
| ·TI TMS320F206 DSP最小系统的建立 | 第33-36页 |
| ·SDRAM通用控制器设计 | 第36-38页 |
| ·Altera Flex10K FPGA的配置 | 第38-39页 |
| ·小结 | 第39-40页 |
| 第五章 图形发生与检测系统的硬件电路设计 | 第40-55页 |
| ·图形发生与检测系统原理图设计 | 第40-45页 |
| ·动态配置电路 | 第41-42页 |
| ·电源电路 | 第42-43页 |
| ·SDRAM和 FPGA电路 | 第43-44页 |
| ·原理图设计小结 | 第44-45页 |
| ·图形发生与检测系统版图设计 | 第45-53页 |
| ·PCB布局 | 第45-46页 |
| ·PCB布线 | 第46-47页 |
| ·DRC检查 | 第47-48页 |
| ·高速电路中的抗干扰问题 | 第48-52页 |
| ·PCB版图设计小结 | 第52-53页 |
| ·图形发生与检测系统调试 | 第53页 |
| ·小结 | 第53-55页 |
| 第六章 图形发生与检测系统的可编程 ASIC实现 | 第55-65页 |
| ·系统开发环境及Verilog HDL硬件描述语言简介 | 第55-56页 |
| ·Ti TMS320F206器件库内部结构 | 第56-57页 |
| ·ARM接口的协议设计 | 第57-59页 |
| ·ARM接口模块设计 | 第59-60页 |
| ·程序存储模块和数据存储模块设计 | 第60-61页 |
| ·IO空间模块设计 | 第61-62页 |
| ·DSP接口模块设计 | 第62-63页 |
| ·系统时钟模块设计 | 第63页 |
| ·Ahera FPGA和其他集成电路器件库设计简介 | 第63-64页 |
| ·Altera FPGA器件库设计简介 | 第63-64页 |
| ·小规模集成电路器件库设计简介 | 第64页 |
| ·小结 | 第64-65页 |
| 第七章 系统功能调试与验证 | 第65-72页 |
| ·系统调试使用的上位机控制软件介绍 | 第65-68页 |
| ·系统调试硬件平台的建立 | 第68-70页 |
| ·调试使用的老化指令代码介绍 | 第70-71页 |
| ·DSP老化指令代码介绍 | 第70-71页 |
| ·FPGA及其他器件的老化指令代码简介 | 第71页 |
| ·小结 | 第71-72页 |
| 第八章 总结与展望 | 第72-75页 |
| 参考文献 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76页 |
