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基于线阵CCD的高精度测量系统设计及测隙测径方法研究

摘要第1-4页
ABSTRACT第4-7页
第一章 绪论第7-17页
 1.1 本课题的应用背景第7-8页
 1.2 CCD简介及CCD技术的发展第8-10页
 1.3 应用线阵CCD尺寸测量的国内外发展水平现状和趋势第10-12页
 1.4 线阵CCD尺寸测量的应用方法概述第12-15页
  1.4.1 衍射法测量小孔或是细丝直径第12-13页
  1.4.2 平行光成像法中等尺寸测量第13-14页
  1.4.3 采用成像法测遥中等尺寸目标第14-15页
  1.4.4 双光路成像法测量大尺寸目标第15页
 1.5 本课题所要进行的研究工作第15-17页
第二章 高精度线阵CCD尺寸测量系统的构建第17-29页
 2.1 线阵CCD器件的基本结构和工作原理第17-19页
  2.1.1 器件基本结构第17-18页
  2.1.2 器件工作原理第18-19页
 2.2 CCD的器件分类及选择第19-23页
  2.2.1 CCD的分类第19页
  2.2.2 CCD器件的选择—TCD1206第19-23页
 2.3 光源的选择及分析第23-24页
 2.4 镜头的选择及分析第24-25页
 2.5 光学子系统构成及CCD尺寸测量原理第25-26页
 2.6 硬件信号处理电路设计第26-27页
 2.7 本章小结第27-29页
第三章 基于单片机的CCD信号处理方法研究第29-34页
 3.1 基于单片机的硬件计数法测量方案综述第29-30页
 3.2 信号的二值化处理第30-32页
 3.3 单片机处理程序流程图第32-33页
 3.4 本章小结第33-34页
第四章 基于数据采集的CCD信号软件处理方法研究第34-43页
 4.1 基于数据采集的软件法测量方案及应用算法综述第34-35页
 4.2 多项式最小二乘法第35-36页
 4.3 RBF神经网络第36-39页
  4.3.1 人工神经网络第36-37页
  4.3.2 径向基函数(RBF)神经网络第37-39页
 4.4 边缘检测及SOBEL算子第39-42页
 4.5 本章小结第42-43页
第五章 尺寸测量实验研究与误差分析第43-69页
 5.1 基于单片机的硬件计数法测量实验研究第43-50页
  5.1.1 基于单片机的硬件计数法实验的总体框架第43-47页
  5.1.2 硬件法测量实验记录及结果第47-50页
 5.2 基于数据采集的软件法测量实验研究第50-64页
  5.2.1 基于数据采集的软件法实验的总体框架第50-51页
  5.2.2 软件法测量实验记录及测量说明第51页
  5.2.3 应用的多项式最小二乘法的实验研究第51-57页
  5.2.4 基于RBF神经网络的数据拟合及Sobel算子处理第57-64页
 5.3 实验结果讨论与误差分析第64-66页
 5.4 线阵CCD量实验研究的总结与展望第66-68页
 5.5 本章小结第68-69页
第六章 总结第69-71页
参考文献第71-76页
致谢第76-77页
攻读硕士学位期间主要的研究成果第77页

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