星载推扫型红外成像传感器建模与仿真
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·研究背景和重要意义 | 第7-8页 |
| ·国内外发展状况 | 第8-9页 |
| ·本文的研究内容 | 第9-11页 |
| ·研究内容 | 第9页 |
| ·内容结构 | 第9-10页 |
| ·本文的特点 | 第10-11页 |
| 第二章 传感器工作原理及建模方法简述 | 第11-21页 |
| ·传感器的基本组成单元 | 第11-15页 |
| ·光学系统 | 第11-12页 |
| ·探测器 | 第12-15页 |
| ·信号处理电路 | 第15页 |
| ·仿真模型 | 第15-16页 |
| ·仿真方法 | 第16-21页 |
| ·光线追迹法 | 第16-19页 |
| ·调制传递函数法 | 第19-21页 |
| 第三章 几种典型效应的建模与仿真 | 第21-43页 |
| ·光学系统效应 | 第21-28页 |
| ·光学系统能量响应 | 第21-22页 |
| ·cos~N θ阴影效应 | 第22-23页 |
| ·渐晕效应 | 第23页 |
| ·冷反射效应 | 第23-25页 |
| ·光学系统孔径衍射限限制 | 第25-26页 |
| ·光学设计的残余几何像差 | 第26-27页 |
| ·振动或温度变化产生的离焦 | 第27页 |
| ·杂光和光学加工质量因子的影响 | 第27-28页 |
| ·探测器效应 | 第28-38页 |
| ·探测器的信号响应 | 第28-29页 |
| ·探测器空间效应 | 第29-33页 |
| ·抖动和像移 | 第33-34页 |
| ·非线性效应 | 第34-35页 |
| ·非均匀性效应 | 第35-36页 |
| ·欠采样效应 | 第36-38页 |
| ·灰度量化 | 第38页 |
| ·信号电路效应 | 第38-40页 |
| ·低通滤波和高通滤波 | 第39页 |
| ·高频提举 | 第39-40页 |
| ·CCD 转移 | 第40页 |
| ·噪声效应 | 第40-43页 |
| ·噪声及其统计分布 | 第40-41页 |
| ·三维噪声模型 | 第41-42页 |
| ·仿真结果及其分析 | 第42-43页 |
| 第四章 两种典型过采样传感器成像特性分析 | 第43-59页 |
| ·典型的过采样 | 第43页 |
| ·超模式采样 | 第43-49页 |
| ·成像原理 | 第44-45页 |
| ·图像重构 | 第45-47页 |
| ·物理效应建模与仿真 | 第47-48页 |
| ·仿真结果及其分析 | 第48-49页 |
| ·细分采样叠加 | 第49-53页 |
| ·成像原理 | 第49-51页 |
| ·物理效应建模与仿真 | 第51页 |
| ·仿真结果分析 | 第51-53页 |
| ·结果分析 | 第53-59页 |
| ·图像评价指标 | 第53-55页 |
| ·仿真图像分析 | 第55-59页 |
| 第五章 结论 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 在读期间的研究成果 | 第67-68页 |
