基于代理模型的电路成品率计算与优化研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·集成电路成品率面临的挑战 | 第9-10页 |
| ·集成电路成品率的研究内容 | 第10-11页 |
| ·本论文的内容与安排 | 第11-13页 |
| 第二章 集成电路参数成品率理论基础 | 第13-29页 |
| ·工艺参数误差 | 第13-19页 |
| ·工艺参数误差分类 | 第13-16页 |
| ·工艺参数误差模型 | 第16-17页 |
| ·工艺参数误差数据处理 | 第17-19页 |
| ·电路仿真试验与代理模型 | 第19-24页 |
| ·构造电路代理模型的步骤 | 第20-21页 |
| ·电路仿真试验设计 | 第21-23页 |
| ·响应曲面代理模型 | 第23-24页 |
| ·电路参数成品率计算 | 第24-26页 |
| ·基本思想和步骤 | 第24页 |
| ·蒙特卡罗方法精度与计算量 | 第24-25页 |
| ·优缺点与改进措施 | 第25-26页 |
| ·电路参数成品率优化 | 第26-29页 |
| ·最坏情况优化法 | 第26页 |
| ·蒙特卡罗优化法 | 第26-27页 |
| ·几何逼近优化法 | 第27-29页 |
| 第三章 基于电路代理模型的参数成品率计算 | 第29-59页 |
| ·数学背景知识 | 第31-33页 |
| ·器件工艺参数变换 | 第31页 |
| ·二阶响应曲面模型及其对角化 | 第31-32页 |
| ·有关概率密度函数的知识 | 第32页 |
| ·傅立叶变换 | 第32-33页 |
| ·电路性能指标概率分布计算 | 第33-48页 |
| ·概率密度函数的推导 | 第33-35页 |
| ·概率密度函数的连续时间傅立叶变换 | 第35-37页 |
| ·时限近似与频域采样步长 | 第37-43页 |
| ·确定频域采样区间与采样 | 第43-44页 |
| ·概率密度函数的时间平移 | 第44-46页 |
| ·消除离散傅立叶逆变换的波动效应 | 第46-47页 |
| ·建立近似分布函数 | 第47-48页 |
| ·算法小结 | 第48页 |
| ·数值算例 | 第48-58页 |
| ·二阶响应曲面模型族 | 第49-51页 |
| ·带隙电压基准源 | 第51-52页 |
| ·运算放大器 | 第52-58页 |
| ·本章 小结 | 第58-59页 |
| 第四章 基于电路代理模型的参数成品率优化 | 第59-69页 |
| ·优化方法思想和原理 | 第59-62页 |
| ·射频放大器的参数成品率优化 | 第62-68页 |
| ·成品率优化之前的电路 | 第63页 |
| ·电路仿真试验与建立代理模型 | 第63-65页 |
| ·中心值与敏感度协同优化 | 第65-68页 |
| ·本章 小结 | 第68-69页 |
| 第五章 结论与展望 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 研究成果 | 第77-78页 |
| 附录A | 第78-88页 |
| 附录B | 第88-90页 |
