基于CDC的微小电容检测方法研究及其在ECT的应用
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第12-13页 |
| 1.2 课题研究意义 | 第13-14页 |
| 1.3 国内外发展现状 | 第14-15页 |
| 1.3.1 国外发展现状 | 第14页 |
| 1.3.2 国内发展现状 | 第14-15页 |
| 1.4 本课题的主要研究内容 | 第15-16页 |
| 1.5 本文的结构概述 | 第16-18页 |
| 第2章 系统总体方案的设计 | 第18-28页 |
| 2.1 微小电容检测的难点 | 第18页 |
| 2.2 微小电容常用测量方法 | 第18-20页 |
| 2.2.1 直流充放电电容检测方式 | 第18-19页 |
| 2.2.2 交流电容检测方式 | 第19-20页 |
| 2.3 电容数字转换器的ECT电容采集系统 | 第20-26页 |
| 2.3.1 目前集成电容检测的现状 | 第21页 |
| 2.3.2 CDC电容检测相关概念 | 第21-25页 |
| 2.3.3 应用AD7747的电容检测 | 第25-26页 |
| 2.4 系统总体设计 | 第26-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 系统硬件电路的设计与实现 | 第28-52页 |
| 3.1 ECT传感器 | 第28-35页 |
| 3.1.1 基于ANSYS的静电场的有限单元法 | 第30-31页 |
| 3.1.2 正交试验设计方法 | 第31-32页 |
| 3.1.3 优化结构 | 第32-34页 |
| 3.1.4 灵敏度的提取 | 第34-35页 |
| 3.2 极板对选择及其极板切换开关的选择 | 第35-39页 |
| 3.2.1 串行检测方式的模拟开关的选择 | 第35-37页 |
| 3.2.2 并行检测方式的模拟开关的选择 | 第37-39页 |
| 3.3 电容检测与处理电路 | 第39-48页 |
| 3.3.1 AD7747的封装及引脚说明 | 第39-40页 |
| 3.3.2 AD7747的前置检测电路 | 第40-47页 |
| 3.3.3 扩大量程的基本原理 | 第47-48页 |
| 3.4 硬件电路的主控芯片 | 第48-49页 |
| 3.5 下位机与上位机通讯 | 第49-50页 |
| 3.6 本章小结 | 第50-52页 |
| 第4章 系统软件的设计与实现 | 第52-68页 |
| 4.1 主程序的设计 | 第52-54页 |
| 4.2 设置电容数字转换器寄存器 | 第54-56页 |
| 4.3 模拟开关转换程序 | 第56-58页 |
| 4.4 串口通讯模块 | 第58-59页 |
| 4.5 上位机LabVIEW设计 | 第59-67页 |
| 4.5.1 VISA配置 | 第61-62页 |
| 4.5.2 校验起始位模块 | 第62-63页 |
| 4.5.3 模数转换模块 | 第63-64页 |
| 4.5.4 数据归一化处理 | 第64-65页 |
| 4.5.5 成像模块 | 第65-67页 |
| 4.6 本章小结 | 第67-68页 |
| 第5章 系统实验与结果分析 | 第68-78页 |
| 5.1 实验系统的搭建 | 第68-70页 |
| 5.2 串行系统试验 | 第70页 |
| 5.3 并行系统实验 | 第70-77页 |
| 5.3.1 ADG1612模拟开关测试试验 | 第71-74页 |
| 5.3.2 电磁式继电器模拟开关检测试验 | 第74-77页 |
| 5.4 本章小结 | 第77-78页 |
| 第6章 结论与展望 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 致谢 | 第84页 |
