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SRAM单粒子加固设计

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第一章 绪论第13-19页
    1.1 研究背景第13-15页
    1.2 国内外研究现状第15-17页
    1.3 研究内容第17-18页
    1.4 论文结构第18-19页
第二章 抗辐照SRAM加固理论研究第19-29页
    2.1 辐射效应原理第19-22页
        2.1.1 辐射效应介绍第19-21页
        2.1.2 SRAM存储单元翻转机理第21-22页
    2.2 现有加固方法及效果第22-28页
        2.2.1 6 管SRAM工作原理第22-23页
        2.2.2 SRAM加固方法总结第23-28页
    2.3 加固发展趋势第28页
    2.4 本章小结第28-29页
第三章 新型SRAM存储单元加固设计与仿真第29-46页
    3.1 加固设计思路第29-31页
    3.2 加固存储单元电路结构设计第31-42页
        3.2.1 加固存储单元基本结构第31-34页
        3.2.2 存储单元电路参数计算第34-39页
        3.2.3 加固SRAM单元仿真第39-42页
    3.3 延时单元结构设计第42-44页
        3.3.1 延时电路基本结构第42页
        3.3.2 延时电路参数计算与仿真第42-44页
    3.4 译码器的加固设计第44-45页
    3.5 本章小结第45-46页
第四章 SRAM外围电路设计与仿真第46-62页
    4.1 SRAM时序设计第46-48页
    4.2 SRAM整体架构设计第48-52页
        4.2.1 存储阵列分级结构第48-51页
        4.2.2 SRAM外围电路布局第51-52页
    4.3 SRAM外围电路设计第52-61页
        4.3.1 行译码器结构第52-54页
        4.3.2 列译码器结构第54页
        4.3.3 预充电敏感放大电路设计第54-59页
        4.3.4 时钟控制电路设计第59-61页
    4.4 本章小结第61-62页
第五章 抗单粒子效应SRAM版图设计与验证第62-87页
    5.1 全定制版图的设计流程第62-64页
    5.2 SRAM各个模块的版图设计第64-69页
        5.2.1 存储阵列版图设计第64-67页
        5.2.2 写延时电路版图设计第67页
        5.2.3 译码电路版图设计第67-68页
        5.2.4 预充电放大电路版图设计第68页
        5.2.5 时序控制电路版图设计第68-69页
    5.3 SRAM整体版图以及仿真第69-71页
    5.4 SRAM功能及抗单粒子效应验证第71-85页
        5.4.1 SRAM读写数据验证第71-75页
        5.4.2 SRAM抗单粒子效用验证第75-85页
    5.5 SRAM功耗测试第85-86页
    5.6 本章小结第86-87页
第六章 总结与展望第87-88页
致谢第88-89页
参考文献第89-93页
攻硕期间取得的研究成果第93-94页

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