| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-12页 |
| 1.1 研究课题与课题意义 | 第9-10页 |
| 1.2 研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 论文的结构安排 | 第11页 |
| 1.4 本章小结 | 第11-12页 |
| 第二章 电磁兼容 | 第12-19页 |
| 2.1 电磁兼容(EMC)基本概念 | 第12页 |
| 2.2 电磁干扰的危害 | 第12-15页 |
| 2.2.1 电磁干扰 | 第12-13页 |
| 2.2.2 电磁干扰产生的原因 | 第13-14页 |
| 2.2.3 防止电磁干扰措施 | 第14-15页 |
| 2.3 电磁兼容相关标准 | 第15-18页 |
| 2.3.1 电磁兼容国内外标准 | 第15-17页 |
| 2.3.2 发射测量标准IEC61967 | 第17页 |
| 2.3.3 抗扰度测试IEC62132 | 第17页 |
| 2.3.4 静电放电标准IEC61000-4-2 | 第17-18页 |
| 2.4 本章小结 | 第18-19页 |
| 第三章 静电放电模拟器 | 第19-34页 |
| 3.1 静电放电模型 | 第19-22页 |
| 3.1.1 人体模型(HBM,Human Body Model) | 第19-20页 |
| 3.1.2 机器模型(MM,Machine Mode) | 第20页 |
| 3.1.3 充电器件模型(CDM,Charge Device Model) | 第20-21页 |
| 3.1.4 场感应模型 | 第21-22页 |
| 3.2 ESD模拟器器的基本要求 | 第22-26页 |
| 3.2.1 ESD模拟器 | 第22-24页 |
| 3.2.2 静电放电发生器历史发展 | 第24-25页 |
| 3.2.3 标准中对ESD模拟的要求 | 第25-26页 |
| 3.3 常用的ESD模拟器介绍 | 第26-27页 |
| 3.4 ESD模拟器的校准 | 第27-33页 |
| 3.4.1 ESD发生器校准方法 | 第28-29页 |
| 3.4.2 ESD模拟器校准装置 | 第29页 |
| 3.4.3 ESD模拟器开路电压和电流波形的校准 | 第29-33页 |
| 3.5 本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 芯片级ESD测试及其对ESD模拟器的要求 | 第34-52页 |
| 4.1 芯片级与系统级ESD测试的比较 | 第34页 |
| 4.2 芯片级测试中ESD模拟器的CORRELATION | 第34-37页 |
| 4.2.1 测试等级,测试仪器 | 第34-36页 |
| 4.2.2 实验室环境和异常等级设置 | 第36-37页 |
| 4.3 测试平台的搭建 | 第37-40页 |
| 4.4 测试PCB板和测试软件 | 第40-50页 |
| 4.4.1 PCB板电路图 | 第40-45页 |
| 4.4.2 测试软件的设计 | 第45-50页 |
| 4.5 试引脚的选择 | 第50-51页 |
| 4.6 本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 芯片级测试中ESD模拟器表现的性能的研究与分析 | 第52-61页 |
| 5.1 测试方法 | 第52-53页 |
| 5.2 测试结果与分析 | 第53-57页 |
| 5.2.1 测试结果 | 第53-54页 |
| 5.2.2 测试分析 | 第54-57页 |
| 5.3 静电放电发生器的校验 | 第57-58页 |
| 5.4 开关器件对测试的影响 | 第58-59页 |
| 5.5 开路电压与电流波形对测试的影响 | 第59-60页 |
| 5.6 本章小结 | 第60-61页 |
| 第六章 总结与展望 | 第61-63页 |
| 6.1 工作总结 | 第61页 |
| 6.2 工作展望 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 攻读硕士学位期间参与发表的论文 | 第67页 |
