基于微流控技术的微粒散射自动测量系统设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 微粒散射测量研究现状 | 第8页 |
| 1.2 微流控技术的研究现状及应用 | 第8-14页 |
| 2 微粒散射测量方法 | 第14-19页 |
| 2.1 微粒散射光分布特性 | 第14-15页 |
| 2.2 微粒捕获方法 | 第15-16页 |
| 2.3 大角度/大动态范围散射光自动测量方法 | 第16-18页 |
| 2.4 本章小结 | 第18-19页 |
| 3 基于LabVIEW的自动测量系统装置设计 | 第19-32页 |
| 3.1 系统整体方案设计 | 第19-28页 |
| 3.2 基于LabVIEW的自动测量设计 | 第28-31页 |
| 3.3 本章小结 | 第31-32页 |
| 4 自动实验系统校准方法研究 | 第32-38页 |
| 4.1 旋台校准工作 | 第32-34页 |
| 4.2 系统光路调平 | 第34-35页 |
| 4.3 激光器和PMT位置对准 | 第35-37页 |
| 4.4 本章小结 | 第37-38页 |
| 5 利用自动测量系统对微粒散射光的实验研究 | 第38-52页 |
| 5.1 探测实验样品制备 | 第38-44页 |
| 5.2 微粒散射测量环境构建 | 第44-46页 |
| 5.3 芯片位置对准实验 | 第46-48页 |
| 5.4 微粒散射测量实验与结果分析 | 第48-51页 |
| 5.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 6 总结与展望 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-57页 |
