DSP辐射效应分析及测试方法研究

摘要	第1-4页
Abstract	第4-7页
第一章 绪论	第7-17页
·课题研究背景与意义	第7页
·空间辐射环境	第7-9页
·空间辐射效应	第9-13页
·单粒子效应	第9-11页
·总剂量效应	第11-12页
·辐射效应检测与评估方法	第12-13页
·辐射效应的国内外研究现状	第13-16页
·单粒子效应的研究现状	第13-15页
·总剂量效应研究现状	第15-16页
·论文主要工作与组织安排	第16-17页
第二章 DSP 的单粒子效应及检测方法	第17-31页
·TMS320C6701 的结构与原理	第17-21页
·DSP CPU 单元	第17-20页
·DSP 片上存储器	第20页
·DSP 外设单元	第20-21页
·DSP 的单粒子效应	第21-27页
·DSP 中的单粒子翻转	第21-24页
·DSP 中的单粒子闩锁效应	第24-26页
·DSP 的单粒子瞬态	第26-27页
·DSP 的单粒子功能中断	第27页
·DSP 单粒子实验检测方法	第27-29页
·基于功能程序的单粒子测试	第27-28页
·基于 DFT 电路的单粒子测试	第28-29页
·SEL 的检测	第29页
·本章小结	第29-31页
第三章 DSP 的总剂量效应分析	第31-45页
·MOS 器件的总剂量效应	第31-33页
·感生电荷的产生与阈值漂移	第31-32页
·MOS 器件的总剂量偏置	第32-33页
·CMOS 电路的总剂量效应分析	第33-38页
·DSP 的总剂量效应及偏置条件分析	第38-43页
·DSP 的最劣偏置条件	第38-40页
·DSP 静态偏置下的状态配置	第40-43页
·本章小结	第43-45页
第四章 DSP 总剂量实验方案与偏置电路设计	第45-55页
·DSP 的偏置电路硬件设计	第45-49页
·DSP 的偏置方案及软件设计	第49-53页
·偏置方案设计	第49-50页
·偏置的软件实现流程与设计	第50-53页
·本章小结	第53-55页
第五章 总结与展望	第55-57页
致谢	第57-59页
参考文献	第59-62页