摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-12页 |
第1章 绪论 | 第12-25页 |
·研究背景及意义 | 第12-15页 |
·研究现状分析 | 第15-22页 |
·高层次综合研究现状 | 第15页 |
·高层次测试综合研究现状 | 第15-18页 |
·高层次低功耗综合研究现状 | 第18-22页 |
·论文的主要研究内容 | 第22-23页 |
·论文的结构安排 | 第23-25页 |
第2章 高层次综合及可测性和低功耗设计技术综述 | 第25-44页 |
·高层次综合技术 | 第25-33页 |
·调度算法 | 第27-31页 |
·分配算法 | 第31-33页 |
·可测性设计技术 | 第33-37页 |
·可测性设计 | 第33-34页 |
·可测性分析 | 第34-35页 |
·测试综合 | 第35-37页 |
·低功耗设计技术 | 第37-43页 |
·CMOS电路功耗的来源 | 第38-39页 |
·低功耗设计方法 | 第39-43页 |
·本章小结 | 第43-44页 |
第3章 基于加权相容图的可测性寄存器分配方法 | 第44-63页 |
·引言 | 第44-45页 |
·高层次综合中与可测性相关的知识 | 第45-47页 |
·数据通路电路图 | 第45页 |
·变量的生存周期和变量的分类 | 第45-46页 |
·可控制性和可观测性 | 第46页 |
·时序通路 | 第46页 |
·时序环路 | 第46-47页 |
·基于可测性高层次综合的四个准则 | 第47-48页 |
·基于可测性的寄存器分配模型 | 第48-51页 |
·变量的相容性分析 | 第48-49页 |
·建立寄存器分配相容图 | 第49-51页 |
·寄存器分配相容图引入可测性权值 | 第51页 |
·寄存器分配相容图的团划分算法 | 第51-56页 |
·基本的团划分算法 | 第52-54页 |
·团划分算法的优化合并准则 | 第54-55页 |
·改进的加权团划分算法 | 第55-56页 |
·算法的时间复杂度分析 | 第56-57页 |
·实验结果 | 第57-62页 |
·本章小结 | 第62-63页 |
第4章 控制流密集型电路的高层次低功耗设计方法 | 第63-81页 |
·引言 | 第63-64页 |
·相关知识 | 第64-65页 |
·电路的主要功耗 | 第64页 |
·相关术语的定义 | 第64-65页 |
·基于分支控制的功耗管理调度方法 | 第65-71页 |
·问题表示及功耗优化的计算 | 第66-68页 |
·分支控制功耗管理调度方法对节点灵活度的影响 | 第68-69页 |
·分支控制功耗管理调度方法对控制节点的选择 | 第69-71页 |
·基于分支控制功耗管理调度方法的流程 | 第71页 |
·基于多电压的调度方法 | 第71-75页 |
·基于多电压调度方法的节点选择 | 第73-74页 |
·基于多电压调度方法的流程 | 第74-75页 |
·基于分支控制管理和多电压的功耗优化调度方法 | 第75页 |
·算法的时间复杂度分析 | 第75-76页 |
·实验结果 | 第76-80页 |
·本章小结 | 第80-81页 |
第5章 可测性和低功耗相结合的高层次综合方法 | 第81-104页 |
·引言 | 第81-83页 |
·调度和模块分配对可测性的影响 | 第83-86页 |
·通过调度提高电路的可控制性和可观测性 | 第83-84页 |
·通过调度降低电路的时序深度和时序环路的长度 | 第84-85页 |
·通过模块分配降低电路的时序深度 | 第85-86页 |
·遗传算法基本原理 | 第86-88页 |
·问题表示和染色体编码 | 第88-92页 |
·遗传算法的染色体编码 | 第88页 |
·问题的约束条件 | 第88-89页 |
·可测性子目标函数 | 第89-90页 |
·功耗子目标函数 | 第90页 |
·多目标的单一适应度函数 | 第90-91页 |
·遗传参数自适应策略 | 第91-92页 |
·不可行解问题的解决 | 第92-98页 |
·基于数据依赖的单点杂交算子 | 第92-96页 |
·基于控制步约束的变异算子 | 第96-97页 |
·不可行解的重调度和分配 | 第97-98页 |
·基于遗传算法的可测性和低功耗高层次综合方法执行过程 | 第98-99页 |
·实验结果 | 第99-103页 |
·本章小结 | 第103-104页 |
结论 | 第104-107页 |
参考文献 | 第107-120页 |
攻读博士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第120-121页 |
致谢 | 第121页 |