首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--半导体技术论文--一般性问题论文--半导体器件制造工艺及设备论文

中芯国际成都封装测试厂设备综合效率系统的设计与实现

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第10-20页
    1.1 引言第10-11页
    1.2 课题背景第11-17页
        1.2.1 半导体生产现状第11-12页
        1.2.2 国内外研究现状第12页
        1.2.3 半导体制造业设备综合效率的需求第12-13页
        1.2.4 制造业设备综合效率技术的发展第13-17页
    1.3 本文的研究内容和意义第17-19页
    1.4 论文结构第19-20页
第二章 设备综合效率系统需求和功能分析第20-33页
    2.1 半导体制造业特点第20-23页
        2.1.1 半导体制造业发展历史第20页
        2.1.2 半导体制造业流程第20-22页
        2.1.3 半导体制造业特点第22-23页
    2.2 半导体制造业计算机集成系统第23-27页
        2.2.1 计算机集成制造系统介绍第23-24页
        2.2.2 中芯成都厂制造集成系统构成第24-26页
        2.2.3 中芯成都厂系统改善方向第26-27页
    2.3 设备综合效率系统功能需求分析第27-32页
        2.3.1 支持实时监控的设备运行维护管理框架第27-28页
        2.3.2 设备信息的实时采集和监控管理第28-30页
        2.3.3 设备效率系统的数据计算模型分析第30-32页
    2.4 本章小结第32-33页
第三章 设备综合效率系统架构及相关技术分析第33-44页
    3.1 设备综合效率系统架构第33-34页
        3.1.1 与设备交互的设备综合效率客户端第34页
        3.1.2 设备综合效率功能服务器第34页
        3.1.3 访问报表的WEB客户端第34页
    3.2. 设备综合效率系统功能模块设计第34-36页
        3.2.1 数据采集第35页
        3.2.2 数据存储和处理第35-36页
        3.2.3 设备综合效率系统报表计算第36页
    3.3 软件实现理论和相关技术研究第36-43页
        3.3.1 软件实现理论第36-37页
        3.3.2 B/S(Browser/Server)结构第37-38页
        3.3.3 通信协议SECS第38-39页
        3.3.4 文件传输FTP第39-41页
        3.3.5 开发程序Java第41页
        3.3.6 程序开发Unix Shell第41-42页
        3.3.7 数据库连接PL/SQL第42-43页
    3.4 本章小结第43-44页
第四章 设备综合效率系统的设计和实现第44-71页
    4.1 设备综合效率系统的结构第44-51页
        4.1.1 设备综合效率的网络拓扑图第44-45页
        4.1.2 设备综合效率OEE系统的硬件实现第45-46页
        4.1.3 设备综合效率系统的计算模型建立第46-48页
        4.1.4 设备状态的定义第48-49页
        4.1.5 设备综合效率系统数据源第49-51页
    4.2 设备综合效率系统的具体实现第51-61页
        4.2.1 总体数据流图第51页
        4.2.2 机台数据的获取过程第51-57页
        4.2.3 数据解析过程中主要的表结构设计第57-61页
    4.3 OEE系统的具体应用第61-70页
        4.3.1 OEE客户机第61-64页
        4.3.2 OEE报表及应用第64-65页
        4.3.3 OEE的失效分析第65-69页
        4.3.4 成果展示第69-70页
    4.4 本章小结第70-71页
第五章 总结与展望第71-73页
    5.1 论文总结第71页
    5.2 下一步工作的展望第71-73页
致谢第73-74页
参考文献第74-76页
附件 1、OEE获取MES数据的关键程序第76-79页

论文共79页,点击 下载论文
上一篇:高速采样中的低抖动时钟源的研究与实现
下一篇:LED恒流驱动与智能保护芯片的研究与设计