首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--一般性问题论文

基于3D集成电路TSV集束结构的热优化研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第10-22页
    1.1 课题研究的背景及意义第10-14页
    1.2 三维集成电路中的TSV技术和TSV集束第14-17页
        1.2.1 三维集成工艺第14-16页
        1.2.2 TSV技术和TSV集束第16-17页
    1.3 国内外研究进展第17-18页
    1.4 本文研究内容和目标第18-19页
    1.5 本文组织结构第19-22页
第2章 TSV建模以及仿真方法验证第22-34页
    2.1 仿真方法和仿真环境的搭建第22-23页
        2.1.1 相关软件和操作环境第22页
        2.1.2 有限元仿真方法第22-23页
    2.2 模型的建立和参数配置第23-26页
        2.2.1 模型建立和仿真环境的搭建第24-25页
        2.2.2 参数配置第25页
        2.2.3 简单模型的仿真第25-26页
    2.3 TSV的参数仿真第26-32页
        2.3.1 TSV半径参数仿真第27-28页
        2.3.2 TSV高度参数仿真第28-29页
        2.3.3 TSV绝缘层厚度参数仿真第29-30页
        2.3.4 不同TSV布局结构热仿真第30-32页
        2.3.5 仿真结果的分析第32页
    2.4 本章小结第32-34页
第3章 TSV布局分析和创新方法的提出第34-40页
    3.1 布局分析第34-36页
        3.1.1 多种布局建模分析第34-35页
        3.1.2 结果分析及结论第35-36页
    3.2 创新方法的提出第36-38页
        3.2.1 创新方法第36-37页
        3.2.2 创新方法的结构第37-38页
    3.3 创新结构面积利用率分析第38-39页
    3.4 本章小结第39-40页
第4章 TSV集束创新结构的热特性第40-54页
    4.1 基本TSV单元热仿真分析第40-46页
        4.1.1 单TSV基本单元第40-43页
        4.1.2 四个TSV基本单元第43-46页
    4.2 TSV集束热仿真分析第46-51页
        4.2.1 垂直方向热仿真分析第46-48页
        4.2.2 水平方向热仿真分析第48-51页
    4.3 结果分析第51-52页
    4.4 本章小结第52-54页
第5章 TSV排布的算法和评估第54-62页
    5.1 TSV排布算法第54-55页
    5.2 不同热源形状TSV建模仿真及其热评估第55-60页
        5.2.1 不同热源形状TSV建模仿真第55-59页
        5.2.2 不同热源形状TSV建模仿真第59-60页
    5.3 benchmark验证第60-61页
    5.4 本章小结第61-62页
结论第62-64页
参考文献第64-68页
攻读硕士学位期间所发表的学术论文第68-70页
致谢第70页

论文共70页,点击 下载论文
上一篇:基于电压降与时钟树优化的RF芯片数字后端设计
下一篇:员工智能一卡通系统设计与实现