| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 缩略语对照表 | 第11-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-18页 |
| 1.1 论文研究背景和意义 | 第14-15页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第14页 |
| 1.1.2 IP质量评测研究意义 | 第14-15页 |
| 1.2 IP质量评测国内外研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3 论文主要内容及结构安排 | 第16-18页 |
| 第二章 数字软核IP质量评测理论基础 | 第18-28页 |
| 2.1 集成电路IP核分类 | 第18页 |
| 2.2 IP核质量 | 第18-19页 |
| 2.3 IP核质量评测标准 | 第19-20页 |
| 2.4 数字软核IP质量评测指标及评测方法 | 第20-21页 |
| 2.4.1 IP核评估 | 第20-21页 |
| 2.4.2 IP核验证 | 第21页 |
| 2.4.3 IP核度量 | 第21页 |
| 2.5 数字软核IP功能评测 | 第21-23页 |
| 2.5.1 功能验证语言 | 第22页 |
| 2.5.2 功能验证方法学 | 第22-23页 |
| 2.6 数字软核IP性能评测 | 第23-24页 |
| 2.7 数字软核IP质量评测流程 | 第24-26页 |
| 2.8 本章小结 | 第26-28页 |
| 第三章 数字软核IP功能评测 | 第28-48页 |
| 3.1 基于覆盖率驱动的验证方法学 | 第28-30页 |
| 3.2 VMM简介 | 第30-32页 |
| 3.2.1 验证平台和环境 | 第30-31页 |
| 3.2.2 VMM标准类库 | 第31-32页 |
| 3.3 基于VMM的IP功能验证-SPI控制器功能验证 | 第32-46页 |
| 3.3.1 SPI控制器设计规范 | 第32-34页 |
| 3.3.2 验证计划及基于VMM的验证环境设计 | 第34-36页 |
| 3.3.3 通用验证组件（UVC）设计与记分板 | 第36-43页 |
| 3.3.4 SPI控制器验证环境整合 | 第43-44页 |
| 3.3.5 覆盖率收敛及结果分析 | 第44-46页 |
| 3.4 本章小结 | 第46-48页 |
| 第四章 数字软核IP性能评测及自动化评测平台设计 | 第48-68页 |
| 4.1 数字软核IP性能评测平台 | 第48-51页 |
| 4.1.1 数字软核IP性能评测平台总体功能框架 | 第48-49页 |
| 4.1.2 数字软核IP性能评测平台数据管理目录结构 | 第49-50页 |
| 4.1.3 数字软核IP性能评测平台图形用户操作界面 | 第50-51页 |
| 4.2 数字软核IP性能评测平台基本功能模块设计 | 第51-56页 |
| 4.2.1 代码质量度量模块 | 第51-54页 |
| 4.2.2 设计质量度量模块 | 第54页 |
| 4.2.3 形式化验证模块 | 第54-55页 |
| 4.2.4 时序性能度量模块 | 第55页 |
| 4.2.5 功耗度量模块 | 第55页 |
| 4.2.6 可测性度量模块 | 第55-56页 |
| 4.3 数字软核IP性能评测平台操作说明 | 第56-59页 |
| 4.4 数字软核IP性能评测平台应用验证 | 第59-66页 |
| 4.4.1 SPI控制器软核性能质量评测 | 第59-63页 |
| 4.4.2 FFT运算专用IP软核性能质量评测 | 第63-64页 |
| 4.4.3 P16C5X处理器软核性能质量评测 | 第64页 |
| 4.4.4 性能评测自动化平台度量结果统计 | 第64-66页 |
| 4.5 本章小结 | 第66-68页 |
| 第五章 总结与展望 | 第68-70页 |
| 5.1 工作总结 | 第68页 |
| 5.2 技术展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72-74页 |
| 作者简介 | 第74-75页 |
