| 致谢 | 第7-9页 |
| 摘要 | 第9-13页 |
| Abstract | 第13-17页 |
| 相关符号及缩略词 | 第28-30页 |
| 第一章 绪论 | 第30-63页 |
| 1.1 引言 | 第30-32页 |
| 1.2 光学特性参数及其基本测量方法介绍 | 第32-38页 |
| 1.2.1 吸收系数 | 第32-33页 |
| 1.2.2 约化散射系数 | 第33-37页 |
| 1.2.3 其他光学参数 | 第37-38页 |
| 1.3 光传输模型介绍 | 第38-49页 |
| 1.3.1 辐射传输方程 | 第38-39页 |
| 1.3.2 漫射近似方程 | 第39-41页 |
| 1.3.3 蒙特卡洛仿真 | 第41-47页 |
| 1.3.4 倍增与逆向倍增算法 | 第47-49页 |
| 1.4 农产品光学特性参数间接测量法研究现状 | 第49-60页 |
| 1.4.1 基于IAD的积分球技术 | 第49-51页 |
| 1.4.2 空间分辨法、时间分辨法、频域法与空间频域法 | 第51-60页 |
| 1.4.2.1 空间分辨法 | 第52-55页 |
| 1.4.2.2 时间分辨法 | 第55-57页 |
| 1.4.2.3 空间频域法 | 第57-60页 |
| 1.5 本研究目的、内容与技术路线 | 第60-62页 |
| 1.5.1 研究目标 | 第60页 |
| 1.5.2 研究内容 | 第60-62页 |
| 1.5.3 技术路线图 | 第62页 |
| 1.6 本章小结 | 第62-63页 |
| 第二章 光学仿体制作及其光学特性参数参考值计算 | 第63-75页 |
| 2.1 引言 | 第63-64页 |
| 2.2 光学仿体的制作 | 第64-68页 |
| 2.2.1 液体仿体 | 第64-65页 |
| 2.2.2 固体仿体 | 第65-68页 |
| 2.2.2.1 薄平板型固体仿体 | 第65-66页 |
| 2.2.2.2 厚平板型固体仿体 | 第66-67页 |
| 2.2.2.3 半球型固体仿体 | 第67-68页 |
| 2.3 光学仿体光学特性参数参考值的计算与稳定性测试 | 第68-74页 |
| 2.3.1 吸收系数参考值 | 第68-69页 |
| 2.3.2 约化散射系数参考值 | 第69-72页 |
| 2.3.2.1 以Intralipid-20%为散射粒子 | 第69页 |
| 2.3.2.2 以TiO_2为散射粒子 | 第69-72页 |
| 2.3.3 仿体稳定性测试 | 第72-74页 |
| 2.4 本章小结 | 第74-75页 |
| 第三章 积分球系统开发与梨的多指标预测 | 第75-91页 |
| 3.1 引言 | 第75-77页 |
| 3.2 材料与方法 | 第77-83页 |
| 3.2.1 积分球系统 | 第77-78页 |
| 3.2.2 光谱测量步骤 | 第78-80页 |
| 3.2.3 系统精度验证 | 第80-81页 |
| 3.2.4 梨样本准备与实验过程 | 第81-82页 |
| 3.2.5 梨多指标预测数据分析 | 第82-83页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第83-89页 |
| 3.3.1 系统精度验证 | 第83-86页 |
| 3.3.2 梨货架期与光学特性参数之间的关系 | 第86-87页 |
| 3.3.3 梨SSC与硬度预测结果 | 第87-89页 |
| 3.4 本章小结 | 第89-91页 |
| 第四章 光学特性参数提高模型预测效果研究 | 第91-107页 |
| 4.1 引言 | 第91-93页 |
| 4.2 吸收与约化散射光谱改善模型预测效果的研究 | 第93-96页 |
| 4.2.1 系统校准 | 第93页 |
| 4.2.2 样本配置 | 第93-95页 |
| 4.2.3 理化指标预测 | 第95-96页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第96-106页 |
| 4.3.1 积分球系统校准与精度验证 | 第96-99页 |
| 4.3.2 理化指标预测结果 | 第99-106页 |
| 4.4 本章小结 | 第106-107页 |
| 第五章 空间频域成像系统开发与梨损伤检测初步研究 | 第107-121页 |
| 5.1 引言 | 第107-108页 |
| 5.2 材料与方法 | 第108-114页 |
| 5.2.1 空间频域成像系统(SFDI-V0) | 第108-109页 |
| 5.2.2 空间频域下漫射近似方程与时域幅值解调法计算μ_a、μ'_s | 第109-110页 |
| 5.2.3 相机标定与系统线性度验证 | 第110-112页 |
| 5.2.3.1 相机标定 | 第110-111页 |
| 5.2.3.2 线性度校正 | 第111-112页 |
| 5.2.4 系统初步校准与精度验证 | 第112-113页 |
| 5.2.5 实验材料准备 | 第113页 |
| 5.2.6 梨不同损伤程度判别 | 第113-114页 |
| 5.3 结果与讨论 | 第114-119页 |
| 5.3.1 相机标定与系统线性度校正结果 | 第114-116页 |
| 5.3.1.1 相机标定结果 | 第114-115页 |
| 5.3.1.2 线性度校正结果 | 第115-116页 |
| 5.3.2 系统校准后精度验证结果 | 第116-117页 |
| 5.3.3 梨损伤判别结果 | 第117-119页 |
| 5.4 本章小结 | 第119-121页 |
| 第六章 基于MC仿真数据的LSSVR结合GA算法光传输模型研究 | 第121-136页 |
| 6.1 引言 | 第121-123页 |
| 6.2 材料与方法 | 第123-127页 |
| 6.2.1 空间频域下的MC仿真 | 第123-124页 |
| 6.2.2 频率优化 | 第124-125页 |
| 6.2.3 前向问题:LSSVR用于建立前向模型 | 第125-127页 |
| 6.2.4 逆向问题 | 第127页 |
| 6.3 结果与讨论 | 第127-134页 |
| 6.3.1 空间频率的优选 | 第127-129页 |
| 6.3.2 前向验证 | 第129-130页 |
| 6.3.3 逆向验证 | 第130-133页 |
| 6.3.4 损伤梨光学特性参数计算结果 | 第133-134页 |
| 6.4 本章小结 | 第134-136页 |
| 第七章 LSSVR结合单拍解调算法实现梨光学特性参数快速计算 | 第136-156页 |
| 7.1 引言 | 第136-138页 |
| 7.2 材料与方法 | 第138-145页 |
| 7.2.1 改进的空间频域成像系统与软件 | 第138-140页 |
| 7.2.2 单拍法解调漫反射率及其验证 | 第140-141页 |
| 7.2.3 基于MC仿真的LSSVR与ANN模型 | 第141-143页 |
| 7.2.4 梨样本准备与理化实验 | 第143-145页 |
| 7.3 结果与讨论 | 第145-154页 |
| 7.3.1 单拍法计算R_d结果验证与单拍照射图案优选 | 第145-146页 |
| 7.3.2 ANN与LSSVR模型预测效果验证与比较 | 第146-149页 |
| 7.3.3 梨损伤后不同时间间隔光学特性参数 | 第149-151页 |
| 7.3.4 梨质地指标与SSC预测效果 | 第151-154页 |
| 7.4 本章小结 | 第154-156页 |
| 第八章 相位测量轮廓术结合空间频域成像技术实现梨光学特性参数无损检测 | 第156-179页 |
| 8.1 引言 | 第156-157页 |
| 8.2 表面轮廓对光学特性参数计算结果的影响初步研究 | 第157-168页 |
| 8.2.1 SFDI与PMP结合同时获得光学特性参数与表面轮廓信息 | 第157-165页 |
| 8.2.2 表面轮廓对光学特性参数的影响探索研究 | 第165-168页 |
| 8.3 基于MC仿真与系统校正结果的空间频域漫反射率修正方法 | 第168-177页 |
| 8.3.1 球形样本MC仿真 | 第168-170页 |
| 8.3.2 表面轮廓对R_d修正公式的确定与验证 | 第170-174页 |
| 8.3.3 半球型仿体光学特性参数检测结果 | 第174-176页 |
| 8.3.4 梨光学特性参数检测结果 | 第176-177页 |
| 8.4 本章小结 | 第177-179页 |
| 第九章 结论与展望 | 第179-184页 |
| 9.1 全文总结 | 第179-181页 |
| 9.2 本研究创新点 | 第181-182页 |
| 9.3 研究局限与今后研究展望 | 第182-184页 |
| 参考文献 | 第184-202页 |
| 攻读博士期间的主要科研成果 | 第202-204页 |
