基于RFID技术的高考试卷点阅系统设计与实现
| 摘要 | 第9-10页 |
| ABSTRACT | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第12-16页 |
| 1.1 课题的研究背景 | 第12-13页 |
| 1.2 RFID技术现状 | 第13-14页 |
| 1.3 课题研究意义 | 第14-15页 |
| 1.4 论文的内容安排 | 第15-16页 |
| 第二章 相关理论和关键技术 | 第16-29页 |
| 2.1 射频识别系统基本组成 | 第16页 |
| 2.2 电子标签 | 第16-20页 |
| 2.2.1 电子标签分类 | 第17页 |
| 2.2.2 电子标签内部结构 | 第17-18页 |
| 2.2.3 电子标签状态转换 | 第18-20页 |
| 2.3 射频识别系统基本工作流程 | 第20页 |
| 2.4 EPC Gen-2标准 | 第20-23页 |
| 2.4.1 读写器向电子标签的链路 | 第21-22页 |
| 2.4.2 电子标签向读写器的链路 | 第22-23页 |
| 2.5 防碰撞技术 | 第23-26页 |
| 2.5.1 防碰撞技术概况 | 第23-25页 |
| 2.5.2 18000-6C防碰撞技术 | 第25-26页 |
| 2.6 RFID系统的安全性 | 第26-28页 |
| 2.7 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 系统概要设计 | 第29-36页 |
| 3.1 系统结构框图 | 第29-31页 |
| 3.2 射频识别模块 | 第31-34页 |
| 3.2.1 电子标签 | 第31-33页 |
| 3.2.2 读写器 | 第33-34页 |
| 3.3 数据处理模块 | 第34-35页 |
| 3.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 第四章 射频识别模块设计 | 第36-45页 |
| 4.1 电子标签 | 第36-38页 |
| 4.2 射频天线 | 第38-43页 |
| 4.2.1 多电子标签互感问题 | 第38-40页 |
| 4.2.2 读写器天线选择 | 第40-41页 |
| 4.2.3 多天线机制 | 第41-43页 |
| 4.3 密集标签识别问题 | 第43-44页 |
| 4.4 本章小结 | 第44-45页 |
| 第五章 数据处理模块设计 | 第45-63页 |
| 5.1 读写器管理与控制 | 第45-47页 |
| 5.2 标签数据完整性验证 | 第47-49页 |
| 5.2.1 防碰撞检测 | 第47-48页 |
| 5.2.2 循环冗余校验 | 第48-49页 |
| 5.3 标签数据安全性验证 | 第49-50页 |
| 5.4 标签数据有效性验证 | 第50-51页 |
| 5.5 标签数据协议解析 | 第51-52页 |
| 5.6 标签数据精确识读 | 第52-54页 |
| 5.7 系统点阅功能 | 第54-56页 |
| 5.8 系统测试 | 第56-61页 |
| 5.8.1 相同方向两天线识别效果 | 第57-59页 |
| 5.8.2 垂直方向两天线识别效果 | 第59-61页 |
| 5.8.3 测试总结 | 第61页 |
| 5.9 本章小结 | 第61-63页 |
| 第六章 总结与展望 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 硕士期间参与的工程项目和发表的文章 | 第69-70页 |
