信息流分析法在集成电路设计中的应用研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 引言 | 第8-9页 |
| 1 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 研究背景 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外相关研究概况 | 第10-11页 |
| 1.3 研究过程中的主要工作 | 第11页 |
| 1.4 论文的章节安排 | 第11-13页 |
| 2 集成电路测试相关理论 | 第13-26页 |
| 2.1 错误检测 | 第13-17页 |
| 2.1.1 集成电路的错误 | 第13-14页 |
| 2.1.2 集成电路的故障模型的描述格式 | 第14-17页 |
| 2.2 集成电路测试 | 第17-19页 |
| 2.2.1 集成电路测试概述 | 第17-18页 |
| 2.2.2 集成电路测试关键方面 | 第18-19页 |
| 2.2.3 测试分类 | 第19页 |
| 2.3 可观测性与可控性分析 | 第19-22页 |
| 2.3.1 可测性设计的基本概念 | 第20页 |
| 2.3.2 可测性设计的分类 | 第20-22页 |
| 2.4 测试向量自动生成 | 第22-24页 |
| 2.4.1 测试向量生成的基本原理 | 第22-23页 |
| 2.4.2 测试向量生成算法 | 第23-24页 |
| 2.5 静态逻辑冒险 | 第24-25页 |
| 2.6 本章小结 | 第25-26页 |
| 3 电路设计的信息流分析及应用 | 第26-44页 |
| 3.1 信息流分析方法 | 第26-29页 |
| 3.2 信息流分析逻辑的基本性质 | 第29-31页 |
| 3.3 信息流分析的基本门逻辑的形式化描述 | 第31-34页 |
| 3.3.1 与门及与非门 | 第32-33页 |
| 3.3.2 或门及或非门 | 第33页 |
| 3.3.3 异或门 | 第33-34页 |
| 3.4 信息流分析逻辑潜在的不精确性 | 第34-36页 |
| 3.5 不精确性根源的分析与证明 | 第36-40页 |
| 3.6 实验及结果 | 第40-43页 |
| 3.7 本章小结 | 第43-44页 |
| 4 信息流分析逻辑生成及算法研究 | 第44-53页 |
| 4.1 IFA逻辑生成算法 | 第44-49页 |
| 4.1.1 暴力算法 | 第44-45页 |
| 4.1.2 0-1算法 | 第45-47页 |
| 4.1.3 构造算法 | 第47-48页 |
| 4.1.4 完全和算法 | 第48-49页 |
| 4.2 实验及结果 | 第49-52页 |
| 4.2.1 实验流程 | 第49-50页 |
| 4.2.2 结果与分析 | 第50-52页 |
| 4.3 本章小结 | 第52-53页 |
| 5 门级信息流分析应用研究 | 第53-56页 |
| 5.1 在开关电路设计中的应用 | 第53-55页 |
| 5.1.1 错误效应传播分析 | 第53-54页 |
| 5.1.2 静态逻辑冒险分析 | 第54页 |
| 5.1.3 可控性与可观测性分析 | 第54-55页 |
| 5.1.4 测试向量自动生成 | 第55页 |
| 5.2 本章小结 | 第55-56页 |
| 结论 | 第56-59页 |
| 论文的研究成果及结论 | 第56-57页 |
| 后续研究工作与展望 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
