配永磁机构真空断路器测控系统及其同步关合技术的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-13页 |
| ·概述 | 第8页 |
| ·课题研究的意义 | 第8-10页 |
| ·永磁机构的单片机实时测控的意义 | 第8-9页 |
| ·同步关合技术的意义 | 第9-10页 |
| ·研究合闸时间与环境温度、控制电压关系的意义 | 第10页 |
| ·发展现状 | 第10-11页 |
| ·国外的发展现状 | 第10-11页 |
| ·国内的发展现状和趋势 | 第11页 |
| ·本课题研究的内容 | 第11-12页 |
| ·本课题需要解决的关键问题 | 第12-13页 |
| 2 永磁机构的控制 | 第13-23页 |
| ·永磁机构控制的原理 | 第13-15页 |
| ·单极配永磁机构的真空断路器的装配 | 第15页 |
| ·电容充、放电电路设计 | 第15-19页 |
| ·电路的结构设计 | 第15-17页 |
| ·充电过程 | 第17-18页 |
| ·放电过程 | 第18-19页 |
| ·IGBT驱动电路设计 | 第19-22页 |
| ·IGBT的驱动条件 | 第19-21页 |
| ·IGBT的驱动电路 | 第21-22页 |
| ·小结 | 第22-23页 |
| 3 同步关合技术的分析 | 第23-35页 |
| ·空载变压器的同步关合技术的分析 | 第23-26页 |
| ·电容器的同步关合技术的分析 | 第26-27页 |
| ·空载线路的同步关合技术的分析 | 第27-29页 |
| ·同步关合的动作过程 | 第29-30页 |
| ·永磁机构同步关合的影响因素 | 第30-32页 |
| ·预击穿的影响 | 第30-31页 |
| ·控制电压对合闸时间的影响 | 第31页 |
| ·环境温度对合闸时间的影响 | 第31-32页 |
| ·老化与磨损对合闸时间的影响 | 第32页 |
| ·同步关合技术的实现方案 | 第32-33页 |
| ·实现方案 | 第32-33页 |
| ·合闸时间的计算 | 第33页 |
| ·小结 | 第33-35页 |
| 4 测控系统设计 | 第35-47页 |
| ·测控系统硬件设计 | 第35-42页 |
| ·80C196KC单片机概述 | 第35-36页 |
| ·I／O口和外部存贮器的扩展 | 第36页 |
| ·键盘和显示接口 | 第36-37页 |
| ·环境温度的测量 | 第37-38页 |
| ·控制电压的测量 | 第38-39页 |
| ·触头间电压波形的测量 | 第39-40页 |
| ·合闸启动信号输出电路 | 第40-41页 |
| ·合闸时间的测量 | 第41页 |
| ·合闸位移的测量 | 第41-42页 |
| ·测控系统软件设计 | 第42-46页 |
| ·主程序设计 | 第43页 |
| ·显示和键盘子程序 | 第43-44页 |
| ·合闸开始中断服务程序设计 | 第44-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 5 测试结果分析 | 第47-53页 |
| ·环境温度和控制电压对合闸时间的影响 | 第47-51页 |
| ·环境温度和控制电压变化范围的确定 | 第47页 |
| ·环境温度和控制电压的尺度变换 | 第47-48页 |
| ·实验方法和实验数据 | 第48页 |
| ·控制电压对合闸时间的影响 | 第48-49页 |
| ·环境温度对合闸时间的影响 | 第49-50页 |
| ·相同条件下合闸时间的稳定性分析 | 第50-51页 |
| ·永磁机构合闸位移和速度测试结果 | 第51-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 6 神经网络建模 | 第53-65页 |
| ·神经网络概述 | 第53-56页 |
| ·生物神经元网络 | 第53-54页 |
| ·人工神经网络 | 第54页 |
| ·BP网络算法 | 第54-56页 |
| ·BP网络算法的改进 | 第56页 |
| ·神经网络建模的过程 | 第56-63页 |
| ·产生数据样本集 | 第57页 |
| ·确定网络的结构 | 第57-59页 |
| ·训练和测试的方法 | 第59-61页 |
| ·训练和测试结果 | 第61-63页 |
| ·神经网络模型的实现 | 第63-64页 |
| ·小结 | 第64-65页 |
| 7 总结 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
| 附录 | 第71-72页 |
