| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 致谢 | 第8-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-20页 |
| ·前言 | 第14-15页 |
| ·万能试验机及其控制系统的技术水平和发展状况 | 第15-17页 |
| ·材料试验机的发展状况和趋势 | 第15-16页 |
| ·万能试验机控制技术的发展状况 | 第16-17页 |
| ·神经元网络控制的发展状况 | 第17-18页 |
| ·课题背景及研究意义 | 第18页 |
| ·论文的内容安排 | 第18-20页 |
| 第二章 万能试验机系统方案设计与实现 | 第20-37页 |
| ·万能试验机测控系统概述 | 第20-22页 |
| ·万能试验机测控系统简介 | 第20页 |
| ·万能试验机的组成与工作原理 | 第20-21页 |
| ·万能试验机系统测量参数分析 | 第21-22页 |
| ·万能试验机系统总体设计 | 第22-24页 |
| ·万能试验机系统总体结构 | 第23页 |
| ·系统各组成部分的分析 | 第23-24页 |
| ·万能试验机电子测控部分设计研究 | 第24-36页 |
| ·ARM 主控制器的功能分析和设计 | 第24-28页 |
| ·ARM 主控制器的功能分析 | 第24-25页 |
| ·ARM 微处理器选型 | 第25-26页 |
| ·ARM 微处理器核心电路设计 | 第26-28页 |
| ·数据采集单元的分析与研究 | 第28-33页 |
| ·负荷检测装置 | 第28-30页 |
| ·变形检测装置 | 第30-31页 |
| ·位移检测装置 | 第31页 |
| ·信号调理电路设计 | 第31-32页 |
| ·数据采集电路设计 | 第32-33页 |
| ·伺服单元的分析与研究 | 第33-35页 |
| ·直流伺服电机 | 第33-34页 |
| ·PWM 伺服驱动单元 | 第34-35页 |
| ·伺服驱动单元的 ARM 控制 | 第35页 |
| ·ARM 主控制器和上位机通信模块的设计 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 万能试验机控制系统模型及内环的设计与研究 | 第37-48页 |
| ·系统控制对象简析 | 第37页 |
| ·控制系统模型的建立 | 第37-40页 |
| ·系统各组成部分模型的建立 | 第37-39页 |
| ·三闭环控制系统模型的建立 | 第39-40页 |
| ·万能试验机控制系统内环 PID 参数优化与研究 | 第40-47页 |
| ·内环设计思想的概述 | 第40页 |
| ·寻优方法的选择 | 第40-42页 |
| ·目标函数的选择 | 第42-44页 |
| ·内环调节器的参数优化 | 第44-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 外环神经元 PID 控制器的设计与研究 | 第48-56页 |
| ·常规 PID 控制算法的理论基础 | 第48-49页 |
| ·神经元网络控制 | 第49-52页 |
| ·神经元网络基本原理 | 第49-51页 |
| ·人工神经元模型 | 第49-50页 |
| ·神经元网络的学习规则 | 第50-51页 |
| ·基于神经元网络的 PID 控制 | 第51-52页 |
| ·外环神经元 PID 控制器的设计 | 第52-55页 |
| ·万能试验机外环单神经元 PID 控制结构 | 第53页 |
| ·采用有监督 Hebb 学习规则的单神经元 PID 控制器 | 第53-54页 |
| ·单神经元 PID 控制器可调参数的选取方法 | 第54页 |
| ·单神经元积分分离 PID 控制器的设计与实现 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 万能试验机神经元 PID 控制仿真 | 第56-60页 |
| ·仿真研究 | 第56-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第六章 总结与展望 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |