| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-12页 |
| ·本论文的研究背景及研究目的 | 第9-11页 |
| ·本论文研究的主要内容 | 第11-12页 |
| 第2章 生丝细度检测原理 | 第12-24页 |
| ·生丝各个性能指标分析 | 第12-14页 |
| ·生丝细度的检测方案 | 第14-21页 |
| ·传统的生丝黑板检验概述 | 第14页 |
| ·目前生丝细度检测概述 | 第14-16页 |
| ·生丝细度正交双向检测 | 第16-18页 |
| ·乌斯特细度测试仪 | 第18页 |
| ·光电检测器检测生丝细度 | 第18-20页 |
| ·织物风格测试仪 | 第20页 |
| ·线阵 CCD 检测生丝细度 | 第20-21页 |
| ·CCD 光电检测原理的可行性 | 第21-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 生丝细度测量系统设计 | 第24-32页 |
| ·光源与调节 | 第25-27页 |
| ·光学系统设计 | 第27-30页 |
| ·扩束准直系统的设计 | 第27-28页 |
| ·三种扩束准直系统的比较 | 第28-30页 |
| ·成像系统的设计 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第4章 系统的软硬件设计 | 第32-49页 |
| ·CCD 器件的发展与应用 | 第32-40页 |
| ·CCD 的工作原理 | 第33-36页 |
| ·CCD 主要的性能参数 | 第36-37页 |
| ·HML1213 的介绍 | 第37-40页 |
| ·FPGA 的发展与应用 | 第40-42页 |
| ·FPGA 介绍和选型 | 第40-42页 |
| ·AD 选择及介绍 | 第42-44页 |
| ·AD9945 介绍 | 第43-44页 |
| ·基于 QUARTUS II 开发平台及 VHDL 语言 | 第44-46页 |
| ·FPGA 芯片的主要功能 | 第46-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第5章 线阵 CCD 图像测量系统软硬件设计 | 第49-56页 |
| ·HML1213 型线阵 CCD 驱动电路设计 | 第49页 |
| ·HML1213 型 CCD 驱动时序分析 | 第49-52页 |
| ·基于 VHDL 语言的线阵 CCD 和 AD 驱动时序设计 | 第52-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第6章 系统的调试与实验 | 第56-61页 |
| ·电路板软硬件调试 | 第56-57页 |
| ·实验结果 | 第57-58页 |
| ·生丝细度的计算方案 | 第58-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第7章 总结与展望 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 攻读学位期间公开发表的论文 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |