| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-16页 |
| ·温度测量的意义 | 第9页 |
| ·测温技术及其发展状况 | 第9-13页 |
| ·辐射测温的发展概况 | 第9-11页 |
| ·多光谱辐射测温技术研究现状 | 第11-13页 |
| ·论文的研究意义和研究内容 | 第13-14页 |
| ·论文的组织结构 | 第14-16页 |
| 第二章 辐射测温原理 | 第16-33页 |
| ·辐射测温的主要的测量参量和基本原理 | 第16-19页 |
| ·光谱辐射度学的一些基本参量的定义 | 第16-18页 |
| ·辐射测温原理的基础定理 | 第18-19页 |
| ·辐射测温的基本测量方法分析 | 第19-22页 |
| ·亮度温度测量法 | 第19-20页 |
| ·全辐射测温法 | 第20页 |
| ·色温测量法 | 第20-22页 |
| ·多光谱测温原理 | 第22-23页 |
| ·用回归法拟合发射率并求解温度 | 第23-33页 |
| ·建立回归方程 | 第23-24页 |
| ·用最小乘法进行回归估计 | 第24-25页 |
| ·高斯消元法解方程组 | 第25-27页 |
| ·最优回归方程的选择 | 第27-31页 |
| ·被测光源温度和光谱发射率求解过程的总结 | 第31-33页 |
| 第三章 光谱测量系统 | 第33-41页 |
| ·光谱仪器的基本组成 | 第33-35页 |
| ·常见光谱分析方法 | 第35-38页 |
| ·照相法 | 第35页 |
| ·光电法 | 第35-36页 |
| ·线阵CCD结合图像采集卡采集 | 第36-38页 |
| ·本论文中采用的光谱采集方法 | 第38-41页 |
| ·基于CIS的成像系统的优势 | 第38页 |
| ·CIS卷帘快门的工作特点 | 第38-39页 |
| ·用卷帘快门工作模式下的CIS实现光谱测量 | 第39-41页 |
| 第四章 基于CMOS图像传感器的成像系统设计 | 第41-71页 |
| ·CMOS图像传感器简介 | 第41-43页 |
| ·CMOS图像传感器的工作原理 | 第42-43页 |
| ·CMOS图像传感器的特点 | 第43页 |
| ·CMOS图像传感器 IBIS5-A-1300 | 第43-48页 |
| ·IBIS5-A-1300的主要性能指标 | 第43-44页 |
| ·IBIS5-A-1300的主要特点 | 第44-47页 |
| ·IBIS5-A-1300的芯片结构 | 第47页 |
| ·像素单元结构 | 第47-48页 |
| ·IBIS5-A-1300的两种快门模式 | 第48-55页 |
| ·卷帘快门(rolling shutter) | 第48-53页 |
| ·卷帘快门工作原理 | 第48页 |
| ·卷帘快门工作步骤 | 第48-52页 |
| ·卷帘快门拍摄特点 | 第52-53页 |
| ·卷帘快门帧周期计算 | 第53页 |
| ·同步快门(global shutter/snapshot shutter) | 第53-54页 |
| ·卷帘快门和同步快门的拍摄效果比较 | 第54-55页 |
| ·IBIS5-A-1300卷帘快门的时序设计 | 第55-65页 |
| ·成像核心的操作和相关信号 | 第55-56页 |
| ·卷帘快门时序设计 | 第56-65页 |
| ·总体实现 | 第56-57页 |
| ·功能模块介绍 | 第57-64页 |
| ·整体仿真及实测结果 | 第64-65页 |
| ·基于 CMOS图像传感器的成像系统硬件电路设计与实现 | 第65-67页 |
| ·卷帘快门模式下的电压要求及其实现 | 第65-66页 |
| ·PCB设计 | 第66-67页 |
| ·拍摄效果及结论 | 第67-71页 |
| ·拍摄效果 | 第67-69页 |
| ·实验结论 | 第69-71页 |
| 第五章 多光谱测温实验系统与结果分析 | 第71-81页 |
| ·光谱测温实验系统介绍 | 第71-74页 |
| ·光源 | 第72-73页 |
| ·色散元件 | 第73页 |
| ·探测单元 | 第73页 |
| ·采集到的光谱图像 | 第73-74页 |
| ·系统的标定 | 第74-78页 |
| ·标定的意义 | 第74页 |
| ·根据像元位置确定波长的定位处理 | 第74-78页 |
| ·标定光源 | 第75-76页 |
| ·标定结果 | 第76-78页 |
| ·数据处理与结果分析 | 第78-81页 |
| 第六章 总结与展望 | 第81-83页 |
| 参考文献 | 第83-85页 |
| 发表文章目录 | 第85-86页 |
| 致谢 | 第86-87页 |