| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 研究意义 | 第11-12页 |
| 1.2.1 理论意义 | 第11页 |
| 1.2.2 现实意义 | 第11-12页 |
| 1.3 研究内容与技术路线 | 第12-14页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第12页 |
| 1.3.2 研究方法与技术路线 | 第12-14页 |
| 1.4 研究创新点 | 第14-15页 |
| 第二章 文献综述 | 第15-21页 |
| 2.1 研发项目相关研究 | 第15-16页 |
| 2.1.1 高技术企业研发项目内涵 | 第15页 |
| 2.1.2 高技术企业研发项目特征 | 第15-16页 |
| 2.2 组织冲突相关理论 | 第16-19页 |
| 2.2.1 组织冲突概念与内涵 | 第16-17页 |
| 2.2.2 组织冲突分类 | 第17-18页 |
| 2.2.3 组织冲突管理理论 | 第18-19页 |
| 2.3 高技术企业成长相关研究 | 第19-20页 |
| 2.3.1 高技术企业成长特征 | 第19页 |
| 2.3.2 技术创新能力对高技术企业成长影响 | 第19-20页 |
| 2.4 文献述评 | 第20-21页 |
| 第三章 理论框架与研究假设 | 第21-26页 |
| 3.1 组织冲突与技术创新能力的关系 | 第21-22页 |
| 3.2 组织冲突与高技术企业成长的关系 | 第22页 |
| 3.3 技术创新能力与高技术企业成长的关系 | 第22-23页 |
| 3.4 技术创新能力的中介作用 | 第23页 |
| 3.5 冲突管理方式的调节作用 | 第23-26页 |
| 第四章 问卷设计与分析方法 | 第26-31页 |
| 4.1 问卷设计 | 第26-27页 |
| 4.1.1 调查问卷的设计 | 第26页 |
| 4.1.2 调查对象的选择 | 第26-27页 |
| 4.2 研究变量的测量 | 第27-29页 |
| 4.2.1 组织冲突 | 第27-28页 |
| 4.2.2 冲突管理方式 | 第28页 |
| 4.2.3 技术创新能力 | 第28-29页 |
| 4.2.4 高技术企业成长 | 第29页 |
| 4.3 数据分析方法 | 第29-31页 |
| 第五章 实证研究 | 第31-48页 |
| 5.1 样本的描述性统计分析 | 第31-32页 |
| 5.1.1 样本收集情况 | 第31页 |
| 5.1.2 样本特征 | 第31-32页 |
| 5.2 样本数据信效度检验 | 第32-35页 |
| 5.2.1 信度检验 | 第32-33页 |
| 5.2.2 效度检验 | 第33-35页 |
| 5.3 相关分析 | 第35页 |
| 5.4 回归分析 | 第35-37页 |
| 5.4.1 组织冲突与技术创新能力回归分析 | 第35-36页 |
| 5.4.2 组织冲突与高技术企业成长回归分析 | 第36-37页 |
| 5.4.3 技术创新能力与高技术企业成长回归分析 | 第37页 |
| 5.5 技术创新能力中介作用检验 | 第37-39页 |
| 5.5.1 在任务冲突与高技术企业成长间中介作用检验 | 第38页 |
| 5.5.2 在关系冲突与高技术企业成长间中介作用检验 | 第38-39页 |
| 5.5.3 在过程冲突与高技术企业成长间中介作用检验 | 第39页 |
| 5.6 冲突管理方式调节作用检验 | 第39-47页 |
| 5.6.1 合作型冲突管理方式调节作用检验 | 第40-42页 |
| 5.6.2 竞争型冲突管理方式调节作用检验 | 第42-45页 |
| 5.6.3 回避型冲突管理方式调节作用检验 | 第45-47页 |
| 5.7 假设检验结果汇总 | 第47-48页 |
| 第六章 研究结论与未来展望 | 第48-56页 |
| 6.1 研究结论 | 第48-52页 |
| 6.1.1 组织冲突对高技术企业成长的影响 | 第48页 |
| 6.1.2 技术创新能力在组织冲突与高技术企业成长间起中介作用 | 第48-49页 |
| 6.1.3 冲突管理方式在组织冲突与高技术企业成长间起调节作用 | 第49-52页 |
| 6.2 对策建议 | 第52-54页 |
| 6.2.1 适当引导研发项目组织冲突 | 第52-53页 |
| 6.2.2 营造公开交流的氛围 | 第53-54页 |
| 6.2.3 选择合适冲突管理方式 | 第54页 |
| 6.3 研究不足与展望 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-60页 |
| 附录 | 第60-63页 |
| 在学期间的研究成果 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
